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外部 棕色-out 保护 用于 c51
微控制器 与 活动 高 重置 输入
特点
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低电压 检测器
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防止 注册 和 可擦可编程只读存储器/闪光灯 腐败
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一个 离散 解决方案
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综合 集成电路 解决方案
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低-电源/低-成本 解决方案
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公式 用于 组件 值 计算
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完成 与 样品 原理图
导言
这个 应用程序 备注 显示 入点 详图 如何 至 防止 系统 故障 期间 peri-
ods 的 不足 电源 供应 电压. 它 描述 技术 至 防止 这 mcu
从 执行 代码 期间 期间 的 不足 电压 由 使用 外部 低 电压-
年龄 探测器. 这些 事件 是 经常 参考 至 作为 “brown-outs”, 在哪里 电源
供应 电压 滴剂 至 一个 不足 水平, 或 “black-outs” 在哪里 电源 供应 电压-
年龄 全部 消失 用于 一个 期间 的 时间.
一个 离散 解决方案 是 讨论 入点 详图, 允许 这 用户 至 calibrate 这 系统
要求. 一个 完成 指南 至 综合 电路 (集成电路) 解决方案 是 也 包括. 由
实施 这些 技术, 这 以下内容 可以 是 预防:
• mcu 注册 腐败
• 我/o 注册 腐败
• 我/o-管脚 随机 切换
• 片上 记忆 腐败 (sram, 可擦可编程只读存储器, 闪光灯)
• 外部 记忆 腐败
C51
微控制器
应用程序
备注
rev. 4183a
–
80C51
–
11/02
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