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资料编号:1044438
 
资料名称:SN74S373N3
 
文件大小: 242K
   
说明
 
介绍:
OCTAL D-TYPE TRANSPARENT LATCHES AND EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS
 
 


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sn54ls373, sn54ls374, sn54s373, sn54s374,
sn74ls373, sn74ls374, sn74s373, sn74s374
octal d-类型 transparent latches 和 边缘-triggered flip-flops
sdls165b – october 1975 – 修订 8月 2002
1
邮递 办公室 盒 655303
达拉斯市, 德州 75265
D
选择 的 第八 latches 或者 第八 d-类型
flip-flops 在 一个 单独的 包装
D
3-状态 总线-驱动 输出
D
D
缓冲 控制 输入
D
时钟-使能 输入 有 hysteresis 至
改进 噪音 拒绝 (’s373 和 ’s374)
D
p-n-p 输入 减少 直流 加载 在 数据
线条 (’s373 和 ’s374)
描述
这些 8-位 寄存器 特性 3-状态 输出
设计 specifically 为 驱动 高级地 电容的
或者 相当地 低-阻抗 负载. 这
高-阻抗 3-状态 和 增加
高-逻辑-水平的 驱动 提供 这些 寄存器 和
这 能力 的 正在 连接 直接地 至 和
驱动 这 总线 线条 在 一个 总线-有组织的 系统
没有 需要 为 接口 或者 pullup 组件.
这些 设备 是 特别 attractive 为
implementing 缓存区 寄存器, i/o 端口,
双向的 总线 驱动器, 和 working 寄存器.
这 第八 latches 的 这 ’ls373 和 ’s373 是
transparent d-类型 latches, meaning 那 当
这 使能 (c 或者 clk) 输入 是 高, 这 q 输出
follow 这 数据 (d) 输入. 当 c 或者 clk 是 带去
低, 这 输出 是 latched 在 这 水平的 的 这 数据
那 是 设置 向上.
这 第八 flip-flops 的 这 ’ls374 和 ’s374 是
边缘-triggered d-类型 flip-flops. 在 这 积极的
转变 的 这 时钟, 这 q 输出 是 设置 至 这
逻辑 states 那 是 设置 向上 在 这 d 输入.
施密特-触发 缓冲 输入 在 这 使能/时钟 线条 的 这 ’s373 和 ’s374 设备 使简化 系统 设计
作 交流 和 直流 噪音 拒绝 是 改进 用 典型地 400 mv 预定的 至 这 输入 hysteresis. 一个 缓冲
输出-控制 (oc
) 输入 能 是 使用 至 放置 这 第八 输出 在 也 一个 正常的 逻辑 状态 (高 或者 低 逻辑
水平) 或者 这 高-阻抗 状态. 在 这 高-阻抗 state, 这 输出 neither 加载 也不 驱动 这 总线 线条
significantly.
OC
做 不 影响 这 内部的 运作 的 这 latches 或者 flip-flops. 那 是, 这 old 数据 能 是 retained 或者 新
数据 能 是 entered, 甚至 当 这 输出 是 止.
版权
2002, 德州 器械 组成公司的
请 是 知道 那 一个 重要的 注意 涉及 有效性, 标准 保用单, 和 使用 在 核心的 产品 的
德州 器械 半导体 产品 和 免责声明 附之 呈现 在 这 终止 的 这个 数据 薄板.
sn54ls373, sn54ls374, sn54s373,
sn54s374 . . . j 或者 w 包装
sn74ls373, sn74s374 . . . dw, n, 或者 ns 包装
sn74ls374 . . . db, dw, n, 或者 ns 包装
sn74s373 . . . dw 或者 n 包装
(顶 视图)
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sn54ls373, sn54ls374, sn54s373,
sn54s374 . . . fk 包装
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C
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OC
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V
CC
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7Q
6Q
6D
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5Q
C
c 为 ’ls373 和 ’s373; clk 为 ’ls374 和 ’s374.
c 为 ’ls373 和 ’s373; clk 为 ’ls374 和 ’s374.
生产 数据 信息 是 电流 作 的 发行 日期.
产品 遵从 至 规格 每 这 条款 的 德州 器械
标准 保用单. 生产 处理 做 不 必然地 包含
测试 的 所有 参数.
在 产品 一致的 至 mil-prf-38535, 所有 参数 是 测试
除非 否则 指出. 在 所有 其它 产品, 生产
处理 做 不 必然地 包含 测试 的 所有 参数.
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