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rev. 6/30/03 sp3222b/3232b 真实 +3.0 至 +5.5v rs-232 transceivers © 版权 2003 sipex 公司
这个 电压 是 管制 至 +5.5v. 在 这个
电压, 这 内部的 振荡器 是 无能. si-
multaneous 和 这 转移 的 这 电压 至
C
4
, 这 积极的 一侧 的 电容 c
1
是 切换
至 v
CC
和 这 负的 一侧 是 连接 至
地, 准许 这 承担 打气 循环 至 begin
又一次. 这 承担 打气 循环 将 continue 作
长 作 这 运算的 情况 为 这 inter-
nal 振荡器 是 呈现.
自从 两个都 v
+
和 v
–
是 separately 发生
从 v
CC
; 在 一个 no–load 情况 v
+
和 v
–
将
是 对称的. older 承担 打气 approaches
那 发生 v
–
从 v
+
将 显示 一个 decrease 在
这 巨大 的 v
–
对照的 至 v
+
预定的 至 这
固有的 inefficiencies 在 这 设计.
这 时钟 比率 为 这 承担 打气 典型地
运作 在 250khz. 这 外部 电容 能
是 作 低 作 0.1
µ
f 和 一个 16v 损坏
电压 比率.
静电释放 容忍
这
sp3222b/3232b
序列 包含
加固 静电释放 cells 在 所有 驱动器 输出 和
接受者 输入 管脚. 这 静电释放 结构 是
改进 在 我们的 previous 家族 为 更多
坚毅的 产品 和 环境 敏感的
至 静电的 discharges 和 有关联的
过往旅客.
这 人 身体 模型 有 被 这 一般地
accepted 静电释放 测试 方法 为 semiconduc-
tors. 这个 方法 是 也 指定 在 mil-标准-
883, 方法 3015.7 为 静电释放 测试. 这 premise
的 这个 静电释放 测试 是 至 simulate 这 人 身体’s
潜在的 至 store 静电的 活力 和
释放 它 至 一个 整体的 电路.
这 simulation 是 执行 用 使用 一个 测试
模型 作 显示 在
图示 18
. 这个 方法
将 测试 这 ic’s 能力 至 承受 一个
静电释放 瞬时 在 正常的 处理 此类 作
在 制造 areas 在哪里 这 ics tend 至
是 处理 frequently.
为 这 人 身体 模型, 这 电流
限制的 电阻 (r
S
) 和 这 源 电容
(c
S
) 是 1.5k
Ω
和 100pf, 各自.
图示 13. 承担 打气 — 阶段 1
图示 14. 承担 打气 — 阶段 2
V
CC
= +5v
–5V –5V
+5V
V
SS
存储 电容
V
DD
存储 电容
C
1
C
2
C
3
C
4
+
+
++
–
–
––
V
CC
= +5v
–10V
V
SS
存储 电容
V
DD
存储 电容
C
1
C
2
C
3
C
4
+
+
++
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