初步的 数据 薄板 tle 6230 gp
半导体 组 页 07. april 98
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所以
- 串行 输出. diagnostic 数据 位 是 shifted 输出 serially 在 这个 管脚, 这 大多数 重大的
位 第一. 所以 是 在 一个 高 阻抗 状态 直到 这
CS
管脚 变得 至 一个 逻辑 低 状态. 新 diag-
nostic 数据 将 呈现 在 这 所以 管脚 下列的 这 rising 边缘 的 sclk.
重置
- 重置 管脚. 如果 这 重置 管脚 是 在 一个 逻辑 低 状态, 它 clears 这 spi 变换 寄存器 和
switches 所有 输出 止. 一个 内部的 拉-向上 结构 是 提供 在 碎片.
Diagnostics
故障
- 故障 管脚. 那里 是 一个 一般 故障 管脚 (打开 流) 这个 显示 一个 高 至 低 transi-
tion 作 soon 作 一个 错误 occurs 为 任何 一个 的 这 第八 途径. 这个 故障 indication 能 是
使用 至 发生 一个 µc 中断. 因此 一个 ‘diagnosis’ 中断 routine 需要 仅有的 是 called
之后 这个 故障 indication. 这个 saves 处理器 时间 对照的 至 一个 cyclic 读 的 这 所以
信息.
作 soon 作 一个 错误 occurs, 错误 信息 是 latched 在 这 diagnosis 寄存器. 一个 新 错误
将 在-写 这 old 错误 report. 串行 数据 输出 管脚 (所以) 是 在 一个 高 阻抗 状态 当
CS
是 高. 如果
CS
receives 一个 低 信号, 所有 diagnosis 位 能 是 shifted 输出 serially. 这
rising 边缘 的
CS
将 重置 所有 错误 寄存器.
那里 是 二 diagnostic 位 每 频道 配置 作 显示 在 图示 1.
正常的 函数:
这 位 结合体
HH
indicates 那 那里 是 非 故障 情况, i.e. 正常的
函数.
超载, 短的 电路 至 电池 (scb) 或者 overtemperature:
HL
是 设置 当 这 电流
限制 gets 起作用的, i.e. 那里 是 一个 超载, 短的 至 供应 或者 overtemperature 情况.
打开 加载:
一个 打开 加载 情况 是 发现 当 这 流 电压 减少 在下 3 v
(典型值.).
LH
位 结合体 是 设置.
短的 电路 至 地:
如果 这 流 源 电压 falls 在下 2 v (典型值.), 短的 至 地面 是 de-
tected 用 这
LL
位 结合体.
一个 definite distinction 在 打开 加载 和 短的 至 地面 是 有保证的 用 设计.
diagnostic 串行 数据 输出 所以
HH 正常的 函数
HL 超载, 短接 加载 或者 overtemperature
LH 打开 加载
LL 短接 至 地面
ch.8 ch.7 ch.6 ch.5
15 14 13 12 11 10 9 8 - - - - -
图示 1: 二 位 每 频道 diagnostic 反馈
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