MICROMODULES
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可靠性
产品 资格 和 在-going 可靠性
monitoring 是 执行 用 st. 这 principal 步伐
是 列表 在 表格 8 和 表格 9.
表格 8. 包装 related tests
便条: 1. 这 notation
m/n
意思: reject 这 全部的 lot 如果 更多 比
m
设备 失败 从 一个 样本 的
n
设备. 为 instance, 0/45 意思 一个
样本 的 45 设备 带去 从 一个 lot, 和 这 全部的 lot 仅有的 accepted 如果 每 一个 的 这 45 样本 设备 passed 这 测试.
表格 9. 产品 related tests
测试 描述 方法 情况 LPTD
Criteria
(便条 1)
1 geometry st 规格 monitoring/lot 5 0/45
2 visual inspection st 规格 优于/lot aql= 0.040 0/315
3 温度 cycling
mil-标准-883
方法 1010
-40 °c 至 150 °c, 100 循环 5 0/45
4
salt atmosphere
corrosion 的 联系
mil-标准-883
方法 1009
35 °c, 5% nacl, 24 小时 15 0/15
5 潮气 阻抗
mil-标准-883
方法 1004
85 °c, 85% hr 片面的 5.5 v,
168 小时
7 0/32
6
震动 和 电的
度量
iso/iec 10373
1 octave/分钟, acceleration 向上 至
10 g (重复的 20 时间)
度量 记忆 审查 在 25 °C
20 0/11
7 bending 恰当的ties iso/iec 7816-1
长 一侧: deflection 2 cm
短的 一侧: deflection 1 cm
30 bendings 每 分钟
20 0/11
8 torsion properties iso/iec 7816-1
最大 displacement 15° ±1°
1000 torsions, 30 torsions 每 分钟
应用 在 长 一侧 仅有的
20 0/11
测试 描述 方法 情况 LPTD Criteria
1 生命 测试 mil-标准-883
方法 1005
140 °c, 6 v, 504 小时 度量
记忆 审查 在 25 °C
3 0/76
2 静电的 释放 mil-标准-883
方法 3015
人 身体 模型:
1.5 k
Ω
, 100 pf, ± 5000 V
n/一个 0/9
静电的 释放 mil-标准-883
方法 3015
机器 模型: 0
Ω
, 200 pf, ± 200 V
度量 记忆 审查 在 25 °C
n/一个 0/9
3 数据 保持,
温度 存储
mil-标准-883
方法 1005
150 °c, 1000 小时, 非 偏差
度量 记忆 审查 在 25 °C
5 0/45
4 写/擦掉 循环 st 规格 100,000 循环 200 ppm/
1024 字节/
1000 循环
0/32
5 有磁性的 地方, 记忆
审查
iso iec 10373 79,500 一个/m 15 1/25
6 x-rays, 记忆 审查 iso iec 10373 70 kv, 0.1 grey 15 1/25
7 uv 明亮的, 记忆 审查 ISOIEC10373
15 w.s/cm
2
, 30 分钟 最大
15 1/25
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