h04-004-03a
MS5F6039
13
7
Reliability test它ems
测试
cate-
gories
测试 items 测试 方法 和 情况
涉及
norms
eiaj ed-4701
(8月.-2001 版本)
号码
的
样本
接受-
ance
号码
1 高 温度
测试 方法 101
5 ( 0 : 1 )
反转 偏差 测试 温度 : ta = 125
±
5
℃
(tj
≦
150
℃
)
偏差 电压 : vc = 0.8×vces
偏差 方法 : 应用 直流 电压 至 c-e
vge = 0v
测试 持续时间 : 1000hr.
2 高 温度
测试 方法 101
5 ( 0 : 1 )
偏差 (为 门) 测试 温度 : ta = 125
±
5
℃
(tj
≦
150
℃
)
偏差 电压 : vc = vge = +20v 或者 -20v
偏差 方法 : 应用 直流 电压 至 g-e
vce = 0v
测试 持续时间 : 1000hr.
3 温度
测试 方法 102
5 ( 0 : 1 )
湿度 偏差 测试 温度 : 85
±
2
o
C
情况 代号 c
相关的 湿度 : 85
±
5%
偏差 电压 : vc = 0.8×vces
偏差 方法 : 应用 直流 电压 至 c-e
vge = 0v
测试 持续时间 : 1000hr.
4 Intermitted 在 时间 : 2 秒.
测试 方法 106
5 ( 0 : 1 )
运行 生命 止 时间 : 18 秒.
(电源 循环) 测试 温度 :
tj=100±5 deg
( 为 igbt )
Tj
≦
150
℃
, ta=25±5
℃
号码 的 循环 : 15000 循环
忍耐力 testsendurance tests
Failure criteri一个
Item 典型的 标识 失败 criteria 单位 便条
更小的 限制 upper 限制
电的 泄漏 电流 ICES - USL×2 毫安
典型的 ±IGES - USL×2
一个
门 门槛 电压 vge(th) lsl×0.8 usl×1.2 毫安
饱和 电压 vce(sat) - usl×1.2 V
向前 电压 VF - usl×1.2 V
热的 IGBT
VGE - usl×1.2 mV
阻抗 或者
VCE
FWD
VF - usl×1.2 mV
分开 电压 Viso broken 绝缘 -
Visual visual inspection
inspection Peeling - 这 visual 样本 -
镀层
和 这 其他
lsl : 更小的 指定 限制.
usl : upper 指定 限制.
便条 :
各自 参数 度量 读-outs 将要 是 制造 之后 stabilizing 这 组件
在 房间 包围的 为 2 小时 最小, 24 小时 最大 之后 除去 从 这 tests.
和 在 情况 的 这 wetting tests, 为 例子, 潮气 阻抗 tests, 各自 组件
将要 是 制造 wipe 或者 dry 完全地 在之前 这 度量.
各自 参数 度量 读-outs 将要 是 制造 之后 stabilizing 这 组件
在 房间 包围的 为 2 小时 最小, 24 小时 最大 之后 除去 从 这 tests.
和 在 情况 的 这 wetting tests, 为 例子, 潮气 阻抗 tests, 各自 组件
将要 是 制造 wipe 或者 dry 完全地 在之前 这 度量.
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