mitsubishi <intelligent 电源 modules>
PM50B4LB060
flat-根基 类型
insulated 包装
oct. 2005
预防措施 为 测试
1. 在之前 appling 任何 控制 供应 电压 (v
D
), 这 输入 terminals 应当 是 牵引的 向上 用 resistores, 等 至 它们的 corre-
sponding 供应 电压 和 各自 输入 信号 应当 是 保持 止 状态.
之后 这个, 这 指定 在 和 止 水平的 设置 为 各自 输入 信号 应当 是 完毕.
2. 当 performing “sc” tests, 这 转变-止 surge 电压 尖刺 在 这 相应的 保护 运作 应当 不 是 al-
lowed 至 上升 在之上 v
CES
比率 的 这 设备.
(这些 测试 应当 不 是 完毕 用 使用 一个 曲线 tracer 或者 它的 相等的.)
p, (u,v)
u,v, (n) u,v, (n)
V
D
(所有)
在
Fo
在
Fo
V
D
(所有)
V
CIN
(0v)
Ic
V V
p, (u,v)
V
CIN
(15v)
–
Ic
图. 7 dead 时间 度量 要点 例子
图. 1 v
ce(sat)
测试 图. 2 v
EC
测试
0V
1.5v 1.5v
1.5v
2V
2V
2V
0V
t
t
t
dead
t
dead
t
dead
1.5v: 输入 在 门槛 电压 vth(在) 典型 值, 2v: 输入 止 门槛 电压 vth(off) 典型 值
ipm’ 输入 信号 v
CIN
(upper arm)
ipm’ 输入 信号 v
CIN
(更小的 arm)
10%
90%
trr
Irr
trtd(在)
tc(在) tc(止)
td(止)
V
CIN
Ic
V
CE
10%
10% 10%
90%
tf
(ton= td(在) + tr) (toff= td(止) + tf)
Fo
Fo
P
N
N
C
S
C
S
u,v
Vcc
Vcc
Ic
Ic
V
D
(所有)
V
D
(所有)
P
u,v
V
CIN
V
CIN
V
CIN
(
15V
)
V
CIN
(
15V
)
Fo
Fo
图. 3 切换 时间 和 sc 测试 电路 图. 4 切换 时间 测试 波形
一个) 更小的 arm 切换
信号 输入
(upper arm)
信号 输入
(更小的 arm)
信号 输入
(upper arm)
信号 输入
(更小的 arm)
b) upper arm 切换
V
CIN
图. 5 i
CES
测试
图. 6 sc 测试 波形
sc trip
短的 电路 电流
toff(sc)
V
D
(所有)
u,v, (n)
p, (u,v)
一个
脉冲波
V
CE
V
CIN
(15v)
Ic
Fo
在
Fo
常量 电流
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