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rf 设备 数据
freescale 半导体
MMG3003NT1
50 ohm 应用 电路:1800-2400
MHz
图示 20. 50 ohm测试 电路 图式
RF
输出
RF
输入
V
供应
C3 C4
C5
Z1 Z2
C1
Z5 Z6
C2
R1
L1
V
CC
Z4Z3
DUT
图示 21. s21, s11 和 s22 相比 频率
2600
−40
30
1600
f, 频率 (mhz)
1800 2000 2200 2400
20
10
0
−10
−20
−30
图示 22. 50 ohm 测试 电路 组件 布局
C1
L1
C2
R1
C5
C4
C3
z1, z7 0.347
″
x 0.058
″
Microstrip
Z2 0.575
″
x 0.058
″
Microstrip
Z3 0.172
″
x 0.058
″
Microstrip
Z4 0.047
″
x 0.058
″
Microstrip
Z5 0.062
″
x 0.058
″
Microstrip
Z6 0.466
″
x 0.058
″
Microstrip
PCB getek 等级 ml200c, 0.031
″
,
ε
r
= 4.1
V
CC
= 6.2 vdc
I
CC
= 180 毫安
S21
s21, s11, s22 (db)
C6
Z7
S11
S22
C6
MMG30XX
rev 2
表格 11. 50 ohm 测试 电路 组件 designations 和 值
部分 描述 部分 号码 生产者
c1, c2 47 pf 碎片 电容 0805K470JBT AVX
C3 68 pf 碎片 电容 0805K680JBT AVX
C4 0.01
µ
f 碎片 电容 0603A103JAT2A AVX
C5
(1)
1.2 pf 碎片 电容 为 1800-2400 mhz 06035J1R2BBT AVX
C6
(1)
0.1 pf 碎片 电容 为 1800-2400 mhz 06035J0R1BBT AVX
L1 22 nh 碎片 inductor hk160822nj-T taiyo uden
R1 7.5
碎片 电阻 RK73B2AT7R5J koa speer
1. tuning 电容: 电容 值 和 location 在 这 传递 线条 是 varied 为 不同的 发生率.
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