相似物 整体的 电路 设备 数据
freescale 半导体 5
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最大 比率
最大 比率
表格 3. 最大 比率
所有 电压 是 和 遵守 至 地面 除非 否则 非ted. exceeding 这些 比率 将 导致 一个 运转 或者
永久的 损坏 至 这 设备.
比率 标识 值 单位
电的 比率
电源 供应 电压 在 vsup
持续的 (稳步的-状态)
瞬时 电压 (加载 丢弃)
V
SUP
-0.3 至 27
-0.3 至 40
V
逻辑 输入
(rxd, txd, mosi, miso, cs
, sclk, rst, wdog, 和 int)
V
LOG
-0.3 至 v
DD
+0.3 V
输出 电压 在 vdd
V
DD
0.0 至 5.3 V
输出 电流 在 vdd
I
DD
内部 限制 一个
HS
电压
输出 电流
V
HS
I
HS
-0.3 至 v
SUP
+0.3
内部 限制
V
一个
静电释放 能力, 人 身体 模型
(1)
hs, l0, l1, l2, l3, canh, canl terminals
所有 其它 terminals
V
ESD1
±4000
±2000
V
静电释放 能力, 机器 模型
(1)
V
ESD2
±200 V
输入 电压/电流 在 l0, l1, l2, l3
直流 输入 电压
直流 输入 电流
瞬时输入电压连结 至 外部 电路系统
(2)
V
DCIN
I
DCIN
V
TRINEC
-0.3 至 40
±2.0
±100
V
毫安
V
canl 和 canh
持续的 电压
持续的 电流
V
canh/l
I
canh/l
-27 至 40
200
V
毫安
canh 和 canl 瞬时 电压 (加载 丢弃)
(3)
V
ldh/l
40 V
canh 和 canl 瞬时 电压
(3)
V
trh/l
±40 V
注释
1. 测试 完毕 在 一致 和 这 人 身体 模型 (c
ZAP
=100 pf, r
ZAP
=1500
Ω
), 机器 模型 (c
ZAP
=200 pf, r
ZAP
=0
Ω
).
2. 测试 完毕 在 一致 和 iso 7637-1. 看图示 4
.
3. 加载 丢弃 测试 完毕 在 一致 和 iso 7637-1, transient 测试 完毕 在 一致 和 iso 7637-1. 看图示 5
.
图示 4. 瞬时 测试 建制为 l0:l3 输入 图示 5. 瞬时 测试 建制 为 canh/CANL
Lx
瞬时 脉冲波
地
发生器
1.0 nF
(便条)
10 k
Ω
便条
波形 每 iso 7637-1. 测试 脉冲 1, 2, 3a, 和 3b.
地
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CANH
CANL
瞬时 脉冲波
地
地
发生器
1.0 nF
1.0 nF
(便条)
便条
波形 每
iso 7637-1. 测试 脉冲 1, 2, 3a, 和 3b.
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