ADXRS150
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这 –3 db 频率 是 设置 用 rsen (这 并行的 结合体
的 r
SEN1
和 r
SEN2
) 在 关于 4.5 kΩ 名义上的; cmid 是 较少 好
控制 自从 r
SEN1
和 r
SEN2
有 被 使用 至 修整 这 比率
敏锐的 在 制造 和 有 一个 ±35% 容忍. 它的
primary 目的 是 至 限制 这 高 频率
demodulation artifacts 从 saturating 这 最终 放大器 平台.
因此, 这个 柱子 的 nominally 400 hz @ 0.1 µf 需要 不 是
准确的. 更小的 频率 是 preferable, 但是 它的 variability 通常地
需要 它 至 是 关于 10 时间 更好 (在 顺序 至 preserve
阶段 integrity) 比 这 好-控制 输出 柱子. 在 一般,
两个都 –3 db 过滤 发生率 应当 是 设置 作 低 作 可能 至
减少 这 振幅 的 这些 高 频率 artifacts 作 好 作
至 减少 这 整体的 系统 噪音.
增加 度量 范围
这 全部-规模 度量 范围 的 这 adxrs150 能 是
增加 用 放置 一个 外部 电阻 在 这
rateout (1b, 2a) 和 sumj (1c, 2c) pins, 这个 将
并行的 这 内部的 r
输出
电阻 那 是 工厂-修整 至
180 kΩ. 为 例子, 一个 330 kΩ 外部 电阻 将 给
大概 8.1 mv/°/秒 敏锐的 和 一个 commensurate
~50% 增加 在 这 全部-规模 范围. 这个 是 有效的 为 向上 至 一个
4× 增加 在 这 全部-规模 范围 (最小 值 的 这 paral-
lel 电阻 允许 是 45 kΩ). 在之外 这个 数量 的 外部
敏锐的 减少, 这 内部的 电路系统 头上空间 需要-
ments 阻止 更远 增加 在 这 直线的 全部-规模 输出
范围. 这 drawbacks 的 modifying 这 全部-规模 范围 是 这
额外的 输出 无效的 逐渐变化 (作 更 作 2°/秒 在 tempera-
ture) 和 这 readjustment 的 这 最初的 无效的 偏差 (看 这 无效的
调整 部分).
温度 输出 和 校准
它 是 一般 实践 至 温度-calibrate gyros 至
改进 它们的 整体的 精度. 这 adxrs150 有 一个 tempera-
ture-均衡的 电压 输出 那 提供 输入 至 此类 一个
校准 方法. 这 电压 在 温度 (3f, 3g) 是 nominally
2.5 v 在 27°c 和 有 一个 ptat (均衡的 至 绝对 tem-
perature) 典型的 的 8.4 mv/°c. 便条 那 这 温度
输出 电路系统 是 限制 至 50 µa 源 电流.
使用 一个 3-要点 校准 技巧, 它 是 可能 至 calibrate
这 adxrs150’s 无效的 和 敏锐的 逐渐变化 至 一个 整体的 精度
的 nearly 300°/小时. 一个 整体的 精度 的 70°/小时 或者 更好的
是 可能 使用 更多 点. 限制的 这 带宽 的 这
设备 减少 这 flat-带宽 噪音 在 这 校准 处理,
improving 这 度量 精度 在 各自 校准 要点.
使用 这 adxrs150 和 一个
供应-比率计 模数转换器
这 adxrs150’s rateout 信号 是 nonratiometric, i.e., nei-
ther 这 无效的 电压 也不 这 比率 敏锐的 是 均衡的 至
这 供应. instead 它们 是 nominally 常量 为 直流 供应
改变 在里面 这 4.75 v 至 5.25 v 运行 范围. 如果 这
adxrs150 是 使用 和 一个 供应-比率计 模数转换器, 这
adxrs150’s 2.5 v 输出 能 是 转变 和 使用 至 制造
纠正 在 软件 为 这 供应 变化.
无效的 调整
无效的 调整 是 可能 用 injecting 一个 合适的 电流 至
sumj (1c, 2c). adding 一个 合适的 电阻 至 也 地面 或者
这 积极的 供应 是 一个 简单的 方法 的 实现 这个. 这 nomi-
nal 2.5 v 无效的 是 为 一个 对称的 摆动 范围 在 rateout
(1b, 2a). 不管怎样, 一个 nonsymmetric 输出 摆动 将 是 合适-
能 在 一些 产品. 便条 那 如果 一个 电阻 是 连接 至
这 积极的 供应, 供应 干扰 将 反映 一些 无效的
instability. 数字的 供应 噪音 应当 是 避免 特别 在
这个 情况 (看 这 供应 和 一般 仔细考虑 部分).
这 电阻 值 至 使用 是 大概
)v– v)/(, .( r
NULL1NULL0NULL
00018052
×=
V
NULL0
是 这 unadjusted 零-比率 输出, 和
V
NULL1
是 这 目标
无效的 值. 如果 这 最初的 值 是 在下 这 desired 值, 这
电阻 应当 terminate 在 一般 或者 地面. 如果 它 是 在之上
这 desired 值, 这 电阻 应当 terminate 在 这 5 v sup-
ply. 值 典型地 是 在 这 1 mΩ 至 5 mΩ 范围.
如果 一个 外部 电阻 是 使用 横过 rateout 和 sumj, 这
并行的 相等的 值 是 substituted 在 这 在之上 等式.
便条 那 这 电阻 值 是 一个 估计 自从 它 假设 v
CC
=
5.0 v 和 v
SUMJ
= 2.5 v.
自-测试 函数
这 adxrs150 包含 一个 自-测试 特性 那 actuates 各自 的
这 感觉到 结构 和 有关联的 electronics 在 这 一样
manner 作 如果 subjected 至 angular 比率. 它 是 使活动 用 标准
逻辑 高 水平 应用 至 输入 st1 (5f, 5g), st2 (4f, 4g), 或者
两个都. st1 导致 这 电压 在 rateout 至 改变 关于
–0.66 v, 和 st2 导致 一个 opposite 改变 的 +0.66 v. 这 self-
测试 回馈 跟随 这 viscosity 温度 dependence 的
这 包装 atmosphere, 大概 0.25%/°c.
activating 两个都 st1 和 st2 同时发生地 是 不 损害的.
自从 st1 和 st2 是 不 必然地 closely matched, actuat-
ing 两个都 同时发生地 将 结果 在 一个 apparent 无效的 偏差
变换.
持续的 自-测试
这 一个-碎片 integration 的 这 adxrs150 给 它 高等级的 reli-
能力 比 是 obtainable 和 任何 其它 高 容积 manufac-
turing method. 一个lso, 它 ismanuf一个ctured under一个mature biMOS
处理 那 有 地方-proven 可靠性. 作 一个 额外的 失败
发现 measure, 电源-在 自-测试 能 是 执行. how-
总是, 一些 产品 将 授权 持续的 自-测试 当
感觉到 比率. 应用 注释 outlining 持续的 自-测试
技巧 是 也 有 在 这 相似物 设备 网站.
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