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ADG436
rev. 一个 –7–
测试 circuits–
V
D
S
D
I
DS
V
1
R
在
= v
1
/i
DS
测试 电路 1. 在 阻抗
V
D
S
D
一个
I
D
(在)
NC
nc = 非 连接
测试 电路 3. 在 泄漏
V
D
S
D
一个
V
S
I
S
(止)
测试 电路 2. 止 泄漏
V
SS
0.1

F
V
DD
地
DS
V
SS
V
DD
V
IN1
0.1

F
SD
V
IN2
NC
V
输出
75

R
L
75

频道-至-频道
串扰
20

log |v
S
/v
输出
|
V
S
测试 电路 8. 频道-至-频道 串扰
V
在
V
SS
V
DD
地
V
输出
DS
V
SS
V
DD
0.1

F
0.1

F
V
S
R
L
75

测试 电路 7. 止 分开
SB
V
SS
V
DD
0.1

F
0.1

F
在
–10V
+10V
SA
地
R
L
C
L
300

35pF
V
输出
D
V
SS
V
DD
V
S
t
在
50% 50%
V
在
3V
+10V
0V
t
止
50%
V
S
0V
–10V
测试 电路 4. 切换 时间
SB
V
SS
V
DD
0.1

F
0.1

F
在
SA
地
R
L
C
L
300

35pF
V
输出
D
V
SS
V
DD
V
S
0V
3V
V
在
t
打开
50% 50%
V
输出
V
S
测试 电路 5. 破裂-在之前-制造 延迟, t
打开
V
SS
V
DD
地
C
L
10nF
V
输出
V
D
R
D
DSA
V
SS
V
DD
0V
3V
V
在
V
输出
0V
Q
INJ
= c
L


V
输出

V
输出
在
测试 电路 6. 承担 injection

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ADG436 rev. 一个 –7– 测试 circuits– V D S D I DS V 1 R 在 = v 1 /i DS 测试电路 1. 在阻抗 V D S D 一个 I D (在) NC nc = 非连接测试电路 3. 在泄漏 V D S D 一个 V S I S (止) 测试电路 2. 止泄漏 V SS 0.1  F V DD 地 DS V SS V DD V IN1 0.1  F SD V IN2 NC V 输出 75  R L 75  频道-至-频道串扰 20  log \|v S /v 输出 \| V S 测试电路 8. 频道-至-频道串扰 V 在 V SS V DD 地 V 输出 DS V SS V DD 0.1  F 0.1  F V S R L 75  测试电路 7. 止分开 SB V SS V DD 0.1  F 0.1  F 在 –10V +10V SA 地 R L C L 300  35pF V 输出 D V SS V DD V S t 在 50% 50% V 在 3V +10V 0V t 止 50% V S 0V –10V 测试电路 4. 切换时间 SB V SS V DD 0.1  F 0.1  F 在 SA 地 R L C L 300  35pF V 输出 D V SS V DD V S 0V 3V V 在 t 打开 50% 50% V 输出 V S 测试电路 5. 破裂-在之前-制造延迟, t 打开 V SS V DD 地 C L 10nF V 输出 V D R D DSA V SS V DD 0V 3V V 在 V 输出 0V Q INJ = c L   V 输出  V 输出在测试电路 6. 承担 injection

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