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AT45DB041B
1938f–dflsh–10/02
输入 测试 波形 和 度量 水平
t
R
, t
F
< 3 ns (10% 至 90%)
输出 测试 加载
交流 波形
二 不同的 定时 图解 是 显示 在下. 波形 1 显示 这 sck 信号
正在 低 当 cs
制造 一个 高-至-低 转变, 和 波形 2 显示 这 sck sig-
nal 正在 高 当 cs
制造 一个 高-至-低 转变. 两个都 波形 显示 有效的
定时 图解. 这 建制 和 支撑 时间 为 这 si 信号 是 关联 至 这 低-至-
高 转变 在 这 sck 信号.
波形 1 显示 定时 那 是 也 兼容 和 spi 模式 0, 和 波形 2
显示 定时 那 是 兼容 和 spi 模式 3.
波形 1 – inactive 时钟极性 低 和 spi 模式 0
波形 2 – inactive 时钟极性 高 和 spi 模式 3
交流
驱动
水平
交流
度量
水平的
0.45v
2.0
0.8
2.4v
设备
下面
测试
30 pf
CS
SCK
SI
所以
t
CSS
有效的 在
tHt
SU
t
WH
t
WL
t
CSH
t
CS
t
V
高 阻抗
有效的 输出
t
HO
t
DIS
高 阻抗
CS
SCK
SI
所以
t
CSS
有效的 在
t
H
t
SU
t
WL
t
WH
t
CSH
t
CS
t
V
高 z
有效的 输出
t
HO
t
DIS
高 阻抗
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