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 ADG794
rev. 0 | 页 9 的 12
测试 电路
I
DS
V1
SD
V
S
R
在
= v1/i
DS
05150-006
SD
V
S
一个
一个
V
D
I
S
(止) I
D
(止)
05150-007
SD
一个
V
D
I
D
(在)
05150-008
NC
nc = 非 连接
图示 6. 在 阻抗 图示 7. 止 泄漏 图示 8. 在 泄漏
0.1
µ
F
5V
V
S
在
SD
V
DD
地
R
L
100
Ω
C
L
35pF
V
输出
EN
3V
50% 50%
90% 90%
V
在
V
输出
t
在
t
止
05150-009
图示 9. 切换 时间
0.1
µ
F
5V
V
S
EN
S1A
D1
V
DD
地
R
L
100
Ω
C
L
35pF
V
输出
S1B
解码器
V
S
50% 50%
V
在
V
输出
t
D
t
D
50% 50%
3V
0V
V
S
05150-010
在
图示 10. 破裂-在之前-制造 时间 延迟
0.1
µ
F
V
DD
地
EN
50
Ω
V
输出
V
S
在
D1
V
在
S1A
ADG794
50
Ω
网络
分析器
05150-011
图示 11. 带宽

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ADG794 rev. 0 \| 页 9 的 12 测试电路 I DS V1 SD V S R 在 = v1/i DS 05150-006 SD V S 一个一个 V D I S (止) I D (止) 05150-007 SD 一个 V D I D (在) 05150-008 NC nc = 非连接图示 6. 在阻抗图示 7. 止泄漏图示 8. 在泄漏 0.1 µ F 5V V S 在 SD V DD 地 R L 100 Ω C L 35pF V 输出 EN 3V 50% 50% 90% 90% V 在 V 输出 t 在 t 止 05150-009 图示 9. 切换时间 0.1 µ F 5V V S EN S1A D1 V DD 地 R L 100 Ω C L 35pF V 输出 S1B 解码器 V S 50% 50% V 在 V 输出 t D t D 50% 50% 3V 0V V S 05150-010 在图示 10. 破裂-在之前-制造时间延迟 0.1 µ F V DD 地 EN 50 Ω V 输出 V S 在 D1 V 在 S1A ADG794 50 Ω 网络分析器 05150-011 图示 11. 带宽

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