注释
1. 信号 水平的 在 这个 决议 begins 至 降级.
2. 这 典型 平均 (background) dark 信号 在 任何
温度 T (kelvin) 在 230 和 300 K 是 给 用:
Q
d
/q
d0
= 1.14 x 10
6
T
3
e
7
9080/t
在哪里 Q
d0
是 这 dark 电流 在 293 k. 便条 那 这个 是
典型 效能 和 一些 变化 将 是 seen
在 设备. 在下 230 K 额外的 dark 电流
组件 和 一个 weaker 温度 dependence 将
变为 重大的.
3. CCD characterisation 度量 制造 使用 承担
发生 用 x-ray photons 的 知道 活力.
4. 量过的 使用 一个 双-斜度 积分器 技巧 (i.e.
correlated 翻倍 抽样) 和 一个 10
m
s integration 时期.
5. 读出 在之上 5000 kHz 能 是 达到 但是 效能
至 这 参数 给 不能 是 有保证的.
BLEMISH 规格
Traps
Pixels 在哪里 承担 是 temporarily 使保持.
Traps 是 counted 如果 它们 有 一个 capacity
更好 比 200 e
7
在 233 k.
Slipped columns
是 counted 如果 它们 有 一个 振幅
更好 比 200 e
7
.
黑色 spots
是 counted 当 它们 有 一个 responsivity
的 较少 比 90% 的 这 local 意思 信号
illuminated 在 大概 half 饱和.
白 spots
是 counted 当 它们 有 一个 一代
比率 100 时间 这 指定 最大 dark
信号 一代 比率 在 293 K (量过的
在 233 和 273 k). 这 典型
温度 dependence 的 白 spot
blemishes 是 不同的 从 那 的 这
平均 dark 信号 和 是 给 用:
Q
d
/q
d0
= 122T
3
e
7
6400/t
白 column
一个 column 这个 包含 在 least 9 白
defects.
黑色 column
一个 column 这个 包含 在 least 9 黑色
defects.
等级 0 1 2
Column defects:
黑色 或者 slipped 0 1 6
白 0 0 0
黑色 spots:
5
3 pixels 2 3 15
5
5 pixels 1 2 8
5
10 pixels 0 0 1
4
10 pixels 0 0 0
Traps
4
200 e
7
125
白 spots 10 10 15
最小 分离 在
调整 黑色 columns .........50pixels
便条
这 效应 的 温度 在 defects 是 那 traps 将 是
observed 较少 在 高等级的 温度 但是 更多 将 呈现
在下 233 k. 这 振幅 的 白 spots 和 columns 将
decrease 迅速 和 温度.
效能
最小值 典型 最大值
顶峰 承担 存储 (看 便条 1) 200k 300k – e
7
/pixel
顶峰 输出 电压 (unbinned) – 450 – mV
Dark 信号 在 293 K (看 便条 2) – 250 500 e
7
/pixel/s
承担 转移 效率 (看 便条 3):
并行的 – 99.9999 – %
串行 – 99.9993 – %
输出 放大器 敏锐的 1.3 1.8 2.3
m
v/e
7
读出 噪音 在 140 K (看 便条 4) – 4 6 rms e
7
/pixel
读出 频率 (看 便条 5) – 20 5000 kHz
回馈 非-统一 (标准. 背离) – 3 10 % 的 意思
Dark 信号 非-统一 在 293 K
(标准. 背离) – 100 200 e
7
/pixel/s
输出 node capacity
相关的 至 image 部分 – 4.0 –
电的 接口 特性
Electrode capacitances (量过的 在 mid-时钟 水平的):
最小值 典型 最大值
I
1
/i
1
interphase – 2.0 – nF
R
1
/r
1
interphase – 70 – pF
I
1
/ss – 11 – nF
R
1
/ss – 185 – pF
输出 阻抗 – 300 –
O
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