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串行 接口
t
LS
t
LH
SDATA
SCK
SL
测试 位
A2 0A0 A1 D0 D1 D2 D3 D4 D5 D6 D7 D8 D9 D10
t
DS
t
DH
注释
1. sdata 位 是 内部 latched 在 这 rising edges 的 sck.
2. 系统 更新 的 承载 寄存器 occurs 在 sl rising 边缘.
3. 所有 12 数据 位 d0–d11 必须 是 写. 如果 这 寄存器 包含 更少的 比 12 位, zeros 应当 是 使用
为 这 未阐明的 位.
4. 测试 位 是 为 内部的 使用 仅有的 和 必须 是 设置 低.
D11
02905-b-011
图示 10. 串行 写 运作
SDATA A0 A1 A2 D0 D1 D2 D3 D4 D5 D10 D11
SCK
SL
0
注释
1. 多样的 sequential 寄存器 将 是 承载 continuously.
2. 这 第一 (最低 地址) 寄存器 地址 是 写, followed 用 多样的 12-bit data-words.
3. 这 地址 automatically increments 和 各自 12-位 数据-文字. (所有 12 位 必须 是 written.)
4. sl 是 使保持 低 直到 这 last desired 寄存器 有 被 承载.
5. 新 数据 是 updated 在 这 next sl rising 边缘.
D0 D1 D10 D11
D0
...
...
...
数据 为 开始
寄存器 地址
数据 为 next
寄存器 地址
D2D1
...
...
1
16
23456 7 8910
15
1817 2827
30
29
31
测试
位
02905-b-012
图示 11. 持续的 串行 写 运作 至 所有 寄存器
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