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rev. 0
–9–
ADG604
测试 电路
I
DS
V1
SD
R
在
= v1/i
DS
V
S
测试 电路 1. 在 阻抗
SD
V
S
一个
一个
V
D
I
S
(止) I
D
(止)
测试 电路 2. 止 泄漏
SD
一个
V
D
I
D
(在)
NC
测试 电路 3. 在 泄漏
V
S
V
DD
V
DD
EN
A0
A1
+2.4v
0.1

F
S1
V
SS
地
D
V
SS
V
S1
V
输出
R
L
300

C
L
35pF
S2
0.1

F
50% 50%
90%
90%
地址
驱动 (v
在
)
V
输出
t
转变
0V
3V
t
转变
S3
S4
V
S2
测试 电路 4. 切换 时间 的 多路调制器, t
转变
t
BBM
80% 80%
地址
驱动 (v
在
)
V
输出
0V
3V
V
S
V
DD
V
DD
EN
A0
A1
+2.4v
0.1

F
S1
V
SS
地
D
V
SS
V
S
V
输出
R
L
300

C
L
35pF
S2
0.1

F
S3
S4
50

测试 电路 5. 破裂-在之前-制造 延迟, t
BBM
V
DD
V
DD
EN
A1
A0
0.1

F
S1
V
SS
地
D
V
SS
V
S
V
输出
R
L
300

C
L
35pF
S2
0.1

F
V
S
50

S3
S4
50% 50%
0.9v
0
0.9v
0
使能
驱动 (v
在
)
输出
t
在
(en)
0V
3V
t
止
(en)
V
0
0V
测试 电路 6. 使能 延迟, t
在
(en), t
止
(en)

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rev. 0 –9– ADG604 测试电路 I DS V1 SD R 在 = v1/i DS V S 测试电路 1. 在阻抗 SD V S 一个一个 V D I S (止) I D (止) 测试电路 2. 止泄漏 SD 一个 V D I D (在) NC 测试电路 3. 在泄漏 V S V DD V DD EN A0 A1 +2.4v 0.1  F S1 V SS 地 D V SS V S1 V 输出 R L 300  C L 35pF S2 0.1  F 50% 50% 90% 90% 地址驱动 (v 在 ) V 输出 t 转变 0V 3V t 转变 S3 S4 V S2 测试电路 4. 切换时间的多路调制器, t 转变 t BBM 80% 80% 地址驱动 (v 在 ) V 输出 0V 3V V S V DD V DD EN A0 A1 +2.4v 0.1  F S1 V SS 地 D V SS V S V 输出 R L 300  C L 35pF S2 0.1  F S3 S4 50  测试电路 5. 破裂-在之前-制造延迟, t BBM V DD V DD EN A1 A0 0.1  F S1 V SS 地 D V SS V S V 输出 R L 300  C L 35pF S2 0.1  F V S 50  S3 S4 50% 50% 0.9v 0 0.9v 0 使能驱动 (v 在 ) 输出 t 在 (en) 0V 3V t 止 (en) V 0 0V 测试电路 6. 使能延迟, t 在 (en), t 止 (en)

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