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µ
µµ
µ
pd23c32340, 23c32380
数据 薄板 m15711ej2v0ds
交流 特性 (t
一个
= –10 至 +70 °c, v
CC
= 2.7 至 3.6 v)
参数 标识 测试 情况 V
CC
= 3.0 v
±
0.3 v V
CC
= 3.3 v
±
0.3 v 单位
最小值 典型值 最大值 最小值 典型值 最大值
地址 进入 时间 t
ACC
100 90 ns
页 进入 时间 t
PAC
25 25 ns
地址 skew 时间 t
SKEW
便条
10 10 ns
碎片 使能 进入 时间 t
CE
100 90 ns
输出 使能 进入 时间 t
OE
25 25 ns
输出 支撑 时间 t
OH
00ns
输出 使不能运转 时间 t
DF
0 25 0 25 ns
文字, /字节 进入 时间 t
WB
100 90 ns
便条
t
SKEW
indicates 这 下列的 三 类型 的 时间 取决于 在 这 情况.
1) 当 切换 /ce 从 高 水平的 至 低 水平的, t
SKEW
是 这 时间 从 这 /ce 低 水平的 输入 要点 直到 这
next 地址 是 决定.
2) 当 切换 /ce 从 低 水平的 至 高 水平的, t
SKEW
是 这 时间 从 这 地址 改变 开始 要点 至 这
/ce 高 水平的 输入 要点.
3) 当 /ce 是 fixed 至 低 水平的, t
SKEW
是 这 时间 从 这 地址 改变 开始 要点 直到 这 next 地址 是
决定.
自从 规格 是 定义 为 t
SKEW
仅有的 当 /ce 是 起作用的, t
SKEW
是 不 主题 至 限制 当 /ce 是 切换
从 高 水平的 至 低 水平的 下列的 地址 determination, 或者 当 这 地址 是 changed 之后 /ce 是 切换
从 低 水平的 至 高 水平的.
Remark
t
DF
是 这 时间 从 inactivation 的 碎片 使能 输入 (/ce) 或者 输出 使能 输入 (/oe 或者 oe) 至
高 阻抗 状态 输出.
交流 测试 情况
输入 波形 (上升
/
下降 时间
≤
≤≤
≤
5 ns)
测试 points1.4 v 1.4 v
输出 波形
测试 points1.4 v 1.4 v
输出 加载
1ttl + 100 pf
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