igp01n120h2, igb01n120h2
IGD01N120H2
电源 半导体
7 rev. 2, 三月-04
E
,
切换 活力 losses
0A 1A 2A 3A
0.0mj
0.2mj
0.4mj
0.6mj
E
在
1
E
止
E
ts
1
E
,
切换 活力 losses
50
Ω
100
Ω
150
Ω
200
Ω
0.05mj
0.10mj
0.15mj
0.20mj
0.25mj
E
ts
1
E
在
1
E
止
I
C
,
集电级 电流
R
G
,
门 电阻
图示 13. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 集电级 电流
(inductive 加载,
T
j
= 150
°
c,
V
CE
= 800v,
V
GE
= +15v/0v,
R
G
= 241
Ω
,
动态 测试 电路 在 图.e )
图示 14. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 门 电阻
(inductive 加载,
T
j
= 150
°
c,
V
CE
= 800v,
V
GE
= +15v/0v,
I
C
= 1a,
动态 测试 电路 在 图.e )
E
,
切换 活力 losses
-40°c 25°C 100°C 150°C
0.00mj
0.05mj
0.10mj
0.15mj
0.20mj
0.25mj
E
ts
1
E
在
1
E
止
E
止
,
转变 止 切换 活力 丧失
0v/美国 1000v/美国 2000v/美国 3000v/美国
0.00mj
0.02mj
0.04mj
0.06mj
I
C
=0.3a,
T
J
=150°C
I
C
=0.3a,
T
J
=25°C
I
C
=1a,
T
J
=150°C
I
C
=1a,
T
J
=25°C
T
j
,
接合面 温度
dv/dt
, 电压
斜度
图示 15. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 接合面 温度
(inductive 加载,
V
CE
= 800v,
V
GE
= +15v/0v,
I
C
= 1a,
R
G
= 241
Ω
,
动态 测试 电路 在 图.e )
图示 16. 典型 转变 止 切换 活力
丧失 为 软 切换
(
动态 测试 电路 在 图. e
)
1
)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 恢复.
1
)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 恢复.
1
)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 recover
y.
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