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IGW60T120
^
trenchstop 序列
电源 半导体
7 初步的 / rev. 1   jul-02
E
,
切换 活力 losses
20一个 40A 60一个 80A
0,0mj
5,0mj
10,0mj
15,0mj
20,0mj
25,0mj
30,0mj
E
ts
*
E
止
*)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 恢复
E
在
*
E
,
切换 活力 losses
5Ω 15Ω 25Ω 35Ω
5 mj
10 mj
15 mj
20 mj
E
ts
*
E
在
*
*)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 恢复
E
止
I
C
,
集电级 电流
R
G
,
门 电阻
图示 13. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 集电级 电流
(inductive 加载,
T
J
=150°c,
V
CE
=600v, v
GE
=0/15v,
R
G
=10
Ω
,
动态 测试 电路 在 图示 e)
图示 14. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 门 电阻
(inductive 加载,
T
J
=150°c,
V
CE
=600v, v
GE
=0/15v,
I
C
=60a,
动态 测试 电路 在 图示 e)
E
,
切换 活力 losses
50°C 100°C 150°C
4mJ
6mJ
8mJ
10mJ
12mJ
14mJ
16mJ
E
ts
*
E
在
*
*)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 恢复
E
止
E
,
切换 活力 losses
400V 500V 600V 700V 800V
5mJ
10mJ
15mJ
20mJ
25mJ
E
ts
*
E
在
*
*)
E
在
和
E
ts
包含 losses
预定的 至 二极管 恢复
E
止
T
J
,
接合面 温度
V
CE
,
集电级
-
发射级 电压
图示 15. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 接合面
温度
(inductive 加载,
V
CE
=600v,
V
GE
=0/15v,
I
C
=60a,
R
G
=10
Ω
,
动态 测试 电路 在 图示 e)
图示 16. 典型 切换 活力 losses
作 一个 函数 的 集电级 发射级
电压
(inductive 加载,
T
J
=150°c,
V
GE
=0/15v,
I
C
=60a,
R
G
=10
Ω
,
动态 测试 电路 在 图示 e)

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IGW60T120 ^ trenchstop 序列电源半导体 7 初步的 / rev. 1 jul-02 E , 切换活力 losses 20一个 40A 60一个 80A 0,0mj 5,0mj 10,0mj 15,0mj 20,0mj 25,0mj 30,0mj E ts * E 止 ) E 在和 E ts 包含 losses 预定的至二极管恢复 E 在 E , 切换活力 losses 5Ω 15Ω 25Ω 35Ω 5 mj 10 mj 15 mj 20 mj E ts * E 在 * ) E 在和 E ts 包含 losses 预定的至二极管恢复 E 止 I C , 集电级电流 R G , 门电阻图示 13. 典型切换活力 losses 作一个函数的集电级电流 (inductive 加载, T J =150°c, V CE =600v, v GE =0/15v, R G =10 Ω , 动态测试电路在图示 e) 图示 14. 典型切换活力 losses 作一个函数的门电阻 (inductive 加载, T J =150°c, V CE =600v, v GE =0/15v, I C =60a, 动态测试电路在图示 e) E , 切换活力 losses 50°C 100°C 150°C 4mJ 6mJ 8mJ 10mJ 12mJ 14mJ 16mJ E ts E 在 * ) E 在和 E ts 包含 losses 预定的至二极管恢复 E 止 E , 切换活力 losses 400V 500V 600V 700V 800V 5mJ 10mJ 15mJ 20mJ 25mJ E ts E 在 * *) E 在和 E ts 包含 losses 预定的至二极管恢复 E 止 T J , 接合面温度 V CE , 集电级 - 发射级电压图示 15. 典型切换活力 losses 作一个函数的接合面温度 (inductive 加载, V CE =600v, V GE =0/15v, I C =60a, R G =10 Ω , 动态测试电路在图示 e) 图示 16. 典型切换活力 losses 作一个函数的集电级发射级电压 (inductive 加载, T J =150°c, V GE =0/15v, I C =60a, R G =10 Ω , 动态测试电路在图示 e)

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