–3–rev. 0
ADG774A
b 版本
T
最小值
至
参数 25
CT
最大值
单位 测试 情况/comments
相似物 转变
相似物 信号 范围 0 至 1.5 V
在 阻抗 (r
在
)4
Ω
典型值 V
D
= 0 v 至 1 v; i
S
= –10 毫安
67
Ω
最大值
在 阻抗 相一致 在
途径 (
∆
R
在
)0.15
Ω
典型值 V
D
= 0 v 至 1 v; i
S
= –10 毫安
0.5
Ω
最大值
在 阻抗 flatness (r
flat(在)
)
1.5 Ω
典型值 V
D
= 0 v 至 1 v; i
S
= –10 毫安
3
Ω
最大值
泄漏 电流
源 止 泄漏 i
S
(止)
±
0.001 na 典型值 V
D
= 2 v, v
S
= 1 v; v
D
= 1 v, v
S
= 2 v;
±
0.1
±
0.25 na 最大值 测试 电路 2
流 止 泄漏 i
D
(止)
±
0.001 na 典型值 V
D
= 2 v, v
S
= 1 v; v
D
= 1 v, v
S
= 2 v;
±
0.1
±
0.25 na 最大值 测试 电路 2
频道 在 泄漏 i
D
, i
S
(在)
±
0.001 na 典型值 V
D
= v
S
= 2 v; v
D
= v
S
= 1 v; 测试 电路 3
±
0.1
±
0.25 na 最大值
数字的 输入
输入 高 电压, v
INH
2.0 v 最小值
输入 低 电压, v
INL
0.4 v 最大值
输入 电流
I
INL
或者 i
INH
0.001
µ
一个 典型值 V
在
= v
INL
或者 v
INH
±
0.1
µ
一个 最大值
C
在
, 数字的 输入 电容 3 pf 典型值
动态 特性
2
t
在
, t
在
(
EN
) 7 ns 典型值 C
L
= 35 pf, r
L
= 50
Ω;
14 ns 最大值 V
S
= 1.5 v; 测试 电路 4
t
止
, t
止
(
EN
) 4 ns 典型值 C
L
= 35 pf, r
L
= 50
Ω;
8 ns 最大值 V
S
= 1.5 v; 测试 电路 4
破裂-在之前-制造 时间 延迟, t
D
3 ns 典型值 C
L
= 35 pf, r
L
= 50
Ω;
1 ns 最小值 V
S1
= v
S2
= 1.5 v; 测试 电路 5
止 分开 –65 db 典型值 f = 10 mhz; r
L
= 50
Ω
, 测试 电路 7
频道-至-频道 串扰 –70 db 典型值 f = 10 mhz; r
L
= 50
Ω
, 测试 电路 8
带宽 –3 db 400 mhz 典型值 测试 电路 6; r
L
= 50
Ω
扭曲量 1.5 % 典型值 R
L
= 100
Ω
承担 injection 4 pc 典型值 C
L
= 1 nf; 测试 电路 9, v
S
= 0 v
C
S
(止) 5 pf 典型值
C
D
(止) 7.5 pf 典型值
C
D
, c
S
(在) 12 pf 典型值
电源 (所需的)东西 V
DD
= 3.3 v
数字的 输入 = 0 v 或者 v
DD
I
DD
1
µ
一个 最大值
0.001
µ
一个 典型值
注释
1
温度 范围 是 作 跟随: b 版本, –40
°
c 至 +85
°
c.
2
有保证的 用 设计, 不 主题 至 生产 测试.
规格 主题 至 改变 没有 注意.
(v
DD
= 3 v
10%, 地 = 0 v. 所有 规格 t
最小值
至 t
最大值
除非 否则 指出.)
单独的 供应
1
表格 i. 真实 表格
EN
在 D1 D2 D3 D4 函数
1 X hi-z hi-z hi-z hi-z 使不能运转
0 0 S1A S2A S3A S4A 在 = 0
0 1 S1B S2B S3B S4B 在 = 1
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