slus487d − 12月 2001 − 修订 十一月 2003
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这些设备 有 限制 建造-在 静电释放 保护. 这 leads 应当 是 短接 一起 或者 这 设备 放置 在 传导性的 foam 在
存储 或者处理 至 阻止 静电的 损坏 至 这 mos 门.
包装 消耗 比率
包装
T
一个
≤
25
°
C
电源 比率
减额 因素
在之上 t
一个
= 25
°
C
T
一个
= 70
°
C
电源 比率
T
一个
= 85
°
C
电源 比率
PW 874 mw 6.99 w/
°
C 559 mw 454 mw
绝对 最大 比率
在 运行 free-空气 温度 范围 除非 否则 指出
(1)
bq29311
供应 电压 范围
(2)
V
CC
, vpack −0.3 v 至 34 v
vc1, vc2, vc3, vc4, vbat −0.3 v 至 34 v
vc5, sr1, sr2 −1 v 至 1 v
输入 电压 范围
vc1 至 vc2, vc2 至 vc3, vc3 至 vc4, vc4 至 vc5 −0.3 v 至 8.5 v
输入 电压 范围
clk-在, sclk, sdata −0.3 v 至 7 v
CNTL −0.3 v 至 34 v
输出 电压 范围
dsg, chg, pchg −0.3 v 至 v
CC
输出 电压 范围
ledout, tout, sclk, sdata, vcell, xalert −0.3 v 至 7 v
电流 为 cell 保持平衡 10 毫安
持续的 总的 电源 消耗 看 dissipation 比率表格
(3)
HBM 1.5 kv
静电释放 比率
(3)
CDM 250 v
静电释放 比率
(3)
MM 50 v
运行 自由-空气 温度 范围, t
一个
−25
°
c 至 85
°
C
存储 温度 范围, t
stg
−65
°
c 至 150
°
C
含铅的 温度 (焊接, 10 s) 260
°
C
(1)
压力在之外 那些 列表 下面 “absolute 最大 ratings” 将 导致 永久的 损坏 至 这 设备. 这些 是 压力 比率 仅有的, 一个nd
函数的运作 的 这 设备 在 这些 或者 任何 其它 情况 在之外 那些 表明 下面 “recommended 运行 conditions” 是 不
暗指. 暴露 至 绝对-最大-评估 情况 为 扩展时期 将 影响 设备 可靠性.
(2)
所有 电压 是 和 遵守 至 地面 的 这个 设备 除了 vcn-vc(n+1), 在哪里 n = 1, 2, 3, 4 cell 电压.
(3)
设计 仔细考虑 应当 是 制造 和 遵守 至 过度的 静电释放.
推荐 运行 情况
最小值 NOM 最大值 单位
供应电压 (v
CC
或者 vpack) 25 V
VBAT 0 V
CC
vc1, vc2, vc3, vc4 0 V
CC
输入 电压 范围, v
I
sr1, sr2, vc5 −0.5 0.5
V输入 电压 范围, v
I
VCn−vc(n+1), (n = 1, 2, 3, 4 ) 0 5
V
CNTL VREG
逻辑 水平的 输入 电压
V
IH
sclk, sdata, clk−in
0.8
×
VREG VREG
V逻辑 水平的 输入 电压
V
IL
sclk, sdata, clk−in
0 0.2
×
VREG
V
XALERT 200
输出 电流, i
O
SDATA 50
µ
一个输出 电流, i
O
VCELL
±
10
µ
一个
输入 电流, i
I
CNTL −0.5 1
µ
一个
外部 3.3-v vreg 电容, c
(reg)
VREG 1
µ
F
运行 包围的 温度 范围, t
一个
−25 85
°
C
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