USBUFxxW6
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图. a7:
remaining 电压 在 两个都 stages s1 (vinput) 和 s2 (voutput) 在 静电释放 surge.
Vin
Vout
一个. 积极的 surge
b.负的 surge
Vin
Vout
请 便条 那 这 USBUFxxW6 是 不 仅有的 行为 为 积极的 静电释放 surges 但是 也 为 负的 ones. 为
这些 种类 的 干扰 它 clamps 关闭 至 地面 电压 作 显示 在 图. a7b.
这 early ageing 和 destruction 的 IC’s 是 常常 预定的 至 获得-向上 phenomenon 这个 是 mainly induced 用
dv/dt. 感谢 至 它的 结构, 这 USBUFxxW6 提供 一个 高 免除 至 获得-向上 phenomenon 用
smoothing 非常 快 edges.
获得-向上 PHENOMENA
串扰 行为
线条 1
线条 2
V
G1
V
G2
R
G1
R
G2
驱动器
R
L1
R
L2
接受者
αβ
1G1 12G2
V+ V
αβ
2G2 21G1
V+ V
图. a8:
串扰 phenomenon
这 串扰 phenomenon 是 预定的 至 这 连接 在 2 线条. 这 连接 因素 (
β
12
或者
β
21
) 在-
creases 当 这 间隙 横过 线条 减少, 特别 在 硅 dice. 在 这 例子 在之上 这 ex-
pected 信号 在 加载 R
L2
是
α
2
V
G2
, 在 事实 这 real 电压 在 这个 要点 有 got 一个 extra 值
β
21
V
G1
. 这个
部分 的 这 V
G1
信号 代表 这 效应 的 这 串扰 phenomenon 的 这 线条 1 在 这 线条 2. 这个
phenomenon 有 至 是 带去 在 账户 当 这 驱动器 impose 快 数字的 数据 或者 高 频率 ana-
log 信号 在 这 disturbing 线条. 这 perturbed 线条 将 是 更多 影响 如果 它 工作 和 低 电压 信号
或者 高 加载 阻抗 (few k
Ω
).
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