rev. 0
adg786/adg788
–9–
I
DS
V1
SD
V
S
R
在
= v1/I
DS
测试 电路 1. 在 阻抗
测试 电路
V
D
I
S
(止)
SD
V
S
一个
测试 电路 2. I
S
(止)
I
D
(在)
SD
一个
V
D
NC
nc = 非 连接
测试 电路 3. I
D
(在)
S1A
D1
VS1B
在/
EN
地
R
L
300
C
L
35pF
V
输出
V
DD
V
DD
0.1
F
S1B
VS1A
VSS
V
SS
0.1
F
t
在
90%
90%
50% 50%
地址
驱动
V
输出
VS1B
VS1A
t
止
测试 电路 4. 切换 时间, t
在
, t
止
3V
50%
输出
50%
t
在
(
EN
)
0.9v
0
0V
0V
使能
驱动 (v
在
)
0.9v
0
V
O
t
止
(
EN
)
A2
V
O
D1
V
S
A1
A0
EN
地
ADG786
S1A
S1B
V
在
50
R
L
300
C
L
35pF
V
DD
V
SS
V
SS
V
DD
0.1
F
测试 电路 5. 使能 延迟, t
在
(
EN
), t
止
(
EN
)
V
输出
D1
V
S
地
adg786/
ADG788
SA
SB
V
在
50
地址
*
*
a0, a1, a2 为 adg786, in1-4 为 adg788
V
SS
0.1
F
V
SS
V
DD
V
DD
0.1
F
R
L
300
C
L
35pF
地址
3V
V
输出
t
打开
80%
80%
0V
V
S
测试 电路 6. 破裂-在之前-制造 延迟, t
打开
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