6.42
idt71v30s/l
高-速 1k x 8 双-端口 静态的 内存 和 中断 工业的 和 商业的 温度 范围
5
注释:
1. 转变 是 量过的 0mv 从 低- 或者 高-阻抗 电压 和 输出 测试 加载 (图示 2).
2. 这个 参数 是 有保证的 用 设备 描绘, 但是 是 不 生产 测试.
3. 'x' 在 部分 号码 indicates 电源 比率 (s 或者 l).
4. 工业的 温度: 为 明确的 speeds, 包装 和 电源 联系 your 销售 办公室.
图示 2. 输出 测试 加载
(为 t
HZ
, t
LZ
, t
WZ
和 t
OW
)
* 包含 scope 和 jig.
图示 1. 交流 输出 测试 加载
输入 脉冲波 水平
Input rise/下降 时间s
Input timingReferenceLevels
Output referenceLevels
Output load
地 至3.0V
3ns 最大值
1.5v
1.5v
计算数量 1 和 2
3741 tbl08
V
CC
CE
3.0v 3.0v
数据 保持 模式
t
CDR
V
IH
V
IH
V
DR
V
DR
≥
2.0v
3741 drw 04
t
R
,
590
Ω
30pF
435
Ω
数据
输出
590
Ω
435
Ω
5pF
数据
输出
3741 drw 05
3.3v
3.3v
BUSY
INT
71V30X25
Com'l仅有的
71V30X35
Com'l仅有的
71V30X55
Com'l仅有的
单位标识 参数 最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值
读 循环
t
RC
读Cycle时间 25
____
35
____
55
____
ns
t
AA
地址 进入 时间
____
25
____
35
____
55 ns
t
ACE
碎片 使能 进入 时间
____
25
____
35
____
55 ns
t
AOE
Output enable交流cess时间
____
12
____
20
____
25 ns
t
OH
输出 hold from address 改变 3
____
3
____
3
____
ns
t
LZ
输出 low-z 时间
(1,2)
0
____
0
____
0
____
ns
t
HZ
Output 高-z 时间
(1,2)
____
12
____
15
____
30 ns
t
PU
碎片Enable至Power 向上 时间
(2)
0
____
0
____
0
____
ns
t
PD
ChipDisable至Po我们r 做wn 时间
(2)
____
50
____
50
____
50 ns
3741 tbl 09
: 点此下载
