lattice 半导体 ispmach 4000v/b/c/z 家族 数据 薄板
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图示 10. global oe 一代 为 ispmach 4032
零 电源/低 电源 和 电源 管理
这 ispmach 4000 家族 是 设计 和 高 速 低 电源 设计 技巧 至 提供 两个都 高 速 和
低 电源. 和 一个 先进的 e
2
低 电源 cell 和 非 sense-放大器
fi
er 设计 approach (全部 cmos 逻辑
approach), 这 ispmach 4000 家族 提供 superfast 管脚-至-管脚 speeds, 当 同时发生地 传送 低
备用物品 电源 没有 needing 任何 “turbo bits” 或者 其它 电源 管理 schemes 有关联的 和 一个 传统的
sense-放大器
fi
er approach.
这 零 电源 ispmach 4000z 是 为基础 在 这 1.8v ispmach 4000c 家族. 和 革新的 电路 设计
改变, 这 ispmach 4000z 家族 是 能 至 达到 这 工业’s “lowest 静态的 power”.
ieee 1149.1-一致的 boundary scan testability
所有 ispmach 4000 设备 有 boundary scan cells 和 是 一致的 至 这 ieee 1149.1 标准. 这个 准许
函数的 测试 的 这 电路 板 在 这个 这 设备 是 挂载 通过 一个 串行 scan path 那 能 进入 所有
核心的 逻辑 注释. 内部的 寄存器 是 linked 内部, 准许 测试 数据 至 是 shifted 在 和 承载 直接地 面向
测试 nodes, 或者 测试 node 数据 至 是 captured 和 shifted 输出 为 veri
fi
cation. 在 增加, 这些 设备 能 是 linked
在 一个 板-水平的 串行 scan path 为 更多 板-水平的 测试. 这 测试 进入 端口 运作 和 一个 lvcmos
接口 那 corresponds 至 这 电源 供应 电压.
i/o 快 con
fi
guration
至facilitate 这 大多数 ef
fi
cient 板 测试, 这 物理的 nature 的 这 i/o cells 必须 是 设置 在之前 运动 任何 continu-
ity tests. 作 这些 tests 是 快, 用 nature, 这 overhead 和 时间 那 是 必需的 为 con
fi
guration 的 这 i/os’
物理的 nature 应当 是 minimal 所以 那 板 测试 时间 是 使减少到最低限度. 这 ispmach 4000 家族 的 设备 准许
这个 用 offering 这 用户 这 能力 至 quickly con
fi
gure 这 物理的 nature 的 这 i/o cells. 这个 快 con
fi
guration
takes milliseconds 至 完全, whereas 它 takes 秒 为 这 全部 设备 至 是 编写程序. lattice's
ispvm™ 系统 程序编制 软件 能 也 执行 这 快 con
fi
guration 通过 这 pc 并行的 端口, 或者
能 发生 这 ate 或者 测试 vectors 需要 为 一个 第三-群 测试 系统.
shared ptoe
(块 0)
shared ptoe
(块 1)
Global
Fuses
goe (3:0)
至 i/o cells
内部的 global oe
pt 总线
(2 线条)
4-位
global oe 总线
global oe
fuse 连接
hard 连线的
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