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函数的 管脚 描述
门
这个 是 这 门 驱动 输出的 这 外部 n-频道
场效应晶体管 发生 用 这 ic 内部的 承担 打气. 门
转变 在 时间 是 典型地 1ms.
VIN
输入 偏差 管脚 连接 至 这 sourcing 供应 一侧 (oring
场效应晶体管 源). 也 serves 作 这 sense 管脚 至
决定 这 sourcing 供应电压. 这 oring 场效应晶体管
将 是 转变 止 当 vin 变为 更小的 比 vout 用 一个
值 更多 比 这 externally 设置 门槛.
VOUT
连接 至 这 加载 一侧 (oring 场效应晶体管 流). 这个 是
这 vout sense 管脚 连接 至 这 加载. 这个 是 这
一般 连接 要点 为 多样的 paralleled 供应.
vout 是 对照的 至 vin 至 决定 当 这 oring
场效应晶体管 有 至 是 转变 止.
HVREF
低 一侧 的 这 内部的 ic 高 电压 涉及 使用 用
内部的 电路系统, 也 有 作 一个 外部 管脚 为
额外的 外部 电容 连接.
竞赛
这个 是 这 高 一侧 连接为 这 hs 比较器 trip
水平的 设置 (v
th(hs)
). 一个 电阻 r1 连接 在
竞赛 和 vout along 和 电阻 r2 提供 可调整的
vout-vin trip 水平的 (0 至 5v). 这个 提供 flexibility 至
externally 设置 这 desired 水平的 取决于 在 particular
系统 必要条件.
VSET
低 一侧 连接 为 这 hs 比较器 trip 水平的 设置
一个 第二 电阻 r2 连接 在 vset 和 竞赛
提供 可调整的 “v
在
- v
输出
” 水平的 along 和 r1.
故障
打开-流 拉-向下 故障输出 和 内部的 在 碎片
过滤 (
T
FLT
). 这 isl6144 故障 发现 电路系统 将 拉
向下 这个 管脚 至 地 作 soon 作它 发现 一个 故障. 不同的
类型 的 faults 和 它们的 发现 mechanisms 是
discussed 在 更多 detail 在 这 块 图解 描述
部分.
地
ic 地面 涉及
详细地 描述
这 isl6144 和 一个 suitably sized n-频道 电源
场效应晶体管(s) 增加 电源 分发 效率 和
有效性 当 replacing 一个 电源 oring 二极管 在 高 电流
产品. 谈及 至 这 应用 仔细考虑 部分 为
电源 节省 当 使用 isl6144 和 一个 n-频道 oring
场效应晶体管 对照的 至 一个 典型 oring 二极管.
函数的 块 描述
reg. 放大器 - 慢 (安静) 转变 止
一个 hysteretic regulating (hr)放大器 是 使用 为 一个 安静/
慢 转变 止 mechanism. 这个 慢 转变 止 是 initiated 当
这 sourcing 电源 供应 是转变 止 慢速地 为 系统
diagnostics. 下面 正常的 运行 情况 作 vout
pulls 向上 至 20mv 在下 v
在
(v
在
-20mv > v
输出
), 这 hr
放大器 regulates 这 门 电压 至 保持 这 20mv
(
V
fwd_hr
) 向前 电压 漏出 横过 这 oring 场效应晶体管
(vs-vd). 这个 将 continue 直到 这 加载 电流 超过 这
场效应晶体管 能力 至 deliver 这 current 和 vsd 的 20mv. 在
这个 情况 门 将 是 charged 至 这 全部 承担 打气
电压 (v
GQP
) 至 全部地 增强 这 场效应晶体管. 在 这个 要点
这 场效应晶体管 将 是 全部地 增强 和 behave 作 一个
常量 电阻 valued 在 这 r
ds(在)
. once v
在
开始 至
漏出 在下 v
输出
, 规章制度 不能 是 maintained 和 这
输出 的 这 hr 放大 是 牵引的 高 和 这 门 是 牵引的
向下 至 v
在
慢速地 在 较少 比 一个 100µs. 作 一个 结果, 这
oring 场效应晶体管 是 转变 止, avoiding 反转 电流 作 好 作
电压 和 电流 压力 在 供应 组件.
hvref 电压 (vin-hvref) HV
ref(vz
)v
在
= 10v 至 75v - 5.5 - V
vset 电压 (vout-vset) V
ref(vset)
V
在
= 10v 至 75v - 5.3 - V
故障
低 输出 电压 V
flt_l
V
在
- v
输出
< 0v, v
门
= v
GL
--0.5v
故障
下沉 电流 I
flt_下沉
故障= v
flt_l
, v
在
< v
输出
, v
门
= v
GL
4--毫安
故障
泄漏 电流 I
flt_leak
故障= ”v
flt_h
”, v
在
>v
输出
, v
门
= v
在
+
V
GQP
- - 10 µA
故障延迟 -低 至 高 T
FLT
门 = v
GL
至 故障
=
V
flt_l
- 120 - µs
注释:
5. 这
*
denotes 参数 这个 是 有保证的 用 设计 和 不 生产 测试.
6. 规格 至 +105°c 和 -40°c 是有保证的 用 设计 和 不 生产 测试.
电的 规格
vin = 48v, t
一个
= -40
o
c 至 105
o
c, 除非 否则 指定
(持续)
参数 标识 测试 情况 最小值 典型值 最大值 单位
ISL6144
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