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图示 8. 切换 测试 电路 (f, t
P
不 电子元件工业联合会 注册).
图示 9. 测试 电路 为 瞬时 免除 和
典型 波形.
图示 10. 推荐 驱动 电路系统 使用 ttl 打开-集电级 逻辑.
地
V
CC
I
F
R
L
R
CC
*
56
Ω
1.0 µf
+5 v
V
O
* 看 便条 11
d.u.t.
Rm
I
F
监控
脉冲波 gen.
Z
O
= 50
Ω

t
r
, t
f
= 50 ns
f = 100 hz
t
脉冲波
= 0.5ms

C
L
**
** c
L
包含 探查 和 偏离 线路 电容.
V
FF
地
V
CC
I
F
V
CM
R
L
R
CC
* 56
Ω
1.0 µf
+5 v
V
O
+–
脉冲波 gen.
* 看 便条 11
一个
B
d.u.t.
地
V
CC
I
LEAK
V
O
d.u.t.
R
2
将 是 omitted
如果 额外的 fanout
是 不 使用.
R
1
R
2
V
CC
R
2
>
2.4 - v
F
I
F
R
1
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V
CC
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F
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F
R
2
I
F
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I
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11 图示 8. 切换测试电路 (f, t P 不电子元件工业联合会注册). 图示 9. 测试电路为瞬时免除和典型波形. 图示 10. 推荐驱动电路系统使用 ttl 打开-集电级逻辑. 地 V CC I F R L R CC * 56 Ω 1.0 µf +5 v V O * 看便条 11 d.u.t. Rm I F 监控脉冲波 gen. Z O = 50 Ω  t r , t f = 50 ns f = 100 hz t 脉冲波 = 0.5ms  C L c L 包含探查和偏离线路电容. V FF 地 V CC I F V CM R L R CC * 56 Ω 1.0 µf +5 v V O +– 脉冲波 gen. * 看便条 11 一个 B d.u.t. 地 V CC I LEAK V O d.u.t. R 2 将是 omitted 如果额外的 fanout 是不使用. R 1 R 2 V CC R 2 > 2.4 - v F I F R 1 < V CC - v F - i F R 2 I F + I LEAK

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