ADG708BRU_集成电路资料查询网

adg708/adg709
–10–
rev. 0
V
S8
3V
50%
t
转变
90%
90%
地址
驱动 (v
在
)
50%
0V
V
S1
V
输出
t
转变
A2
D
* 类似的 连接 为 adg709
A1
A0
EN
地
ADG708*
S1
S8
s2 thru s7
V
在
2.4v
50

35pF
V
DD
V
SS
V
DD
V
SS
V
S1
V
S8
300

R
L
C
L
V
输出
测试 电路 5. 切换 时间 的 多路调制器, t
转变
t
打开
3V
80%
80%
地址
驱动 (v
在
)
0V
V
输出
A2
D
* 类似的 连接 为 adg709
A1
A0
EN
地
ADG708*
S1
S8
s2 thru s7
V
在
2.4v
50

35pF
V
DD
V
SS
V
DD
V
SS
V
S
300

R
L
C
L
V
输出
测试 电路 6. 破裂-在之前-制造 延迟, t
打开
测试 电路
R
在
= v
1
/i
DS
V
S
V1
I
DS
D
S
测试 电路 1. 在 阻抗
V
D
一个
0.8v
D
I
S
(止)
V
SS
V
DD
V
SS
V
DD
S1
S2
S8
EN
地
V
S
测试 电路 2. I
S
(止)
V
S
一个
0.8v
D
I
D
(止)
V
SS
V
DD
V
SS
V
DD
S1
S2
S8
EN
地
V
D
测试 电路 3. I
D
(止)
一个
2.4v
D
I
D
(在)
V
SS
V
DD
V
SS
V
DD
S1
S8
EN
地
V
D
V
S
测试 电路 4. I
D
(在)

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adg708/adg709 –10– rev. 0 V S8 3V 50% t 转变 90% 90% 地址驱动 (v 在 ) 50% 0V V S1 V 输出 t 转变 A2 D * 类似的连接为 adg709 A1 A0 EN 地 ADG708* S1 S8 s2 thru s7 V 在 2.4v 50  35pF V DD V SS V DD V SS V S1 V S8 300  R L C L V 输出测试电路 5. 切换时间的多路调制器, t 转变 t 打开 3V 80% 80% 地址驱动 (v 在 ) 0V V 输出 A2 D * 类似的连接为 adg709 A1 A0 EN 地 ADG708* S1 S8 s2 thru s7 V 在 2.4v 50  35pF V DD V SS V DD V SS V S 300  R L C L V 输出测试电路 6. 破裂-在之前-制造延迟, t 打开测试电路 R 在 = v 1 /i DS V S V1 I DS D S 测试电路 1. 在阻抗 V D 一个 0.8v D I S (止) V SS V DD V SS V DD S1 S2 S8 EN 地 V S 测试电路 2. I S (止) V S 一个 0.8v D I D (止) V SS V DD V SS V DD S1 S2 S8 EN 地 V D 测试电路 3. I D (止) 一个 2.4v D I D (在) V SS V DD V SS V DD S1 S8 EN 地 V D V S 测试电路 4. I D (在)

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