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资料编号:98624
 
资料名称:74ABT00N
 
文件大小: 95.03K
   
说明
 
介绍:
Quad 2-input NAND gate
 
 


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飞利浦 半导体 产品 规格
74ABT00四方形 2-输入 与非 门
1995 sep 18
3
绝对 最大 比率
1,
2
标识 参数 情况 比率 单位
V
CC
直流 供应 电压 –0.5 至 +7.0 V
I
IK
直流 输入 二极管 电流 V
I
< 0 –18 毫安
V
I
直流 输入 电压
3
–1.2 至 +7.0 V
I
OK
直流 输出 二极管 电流 V
O
< 0 –50 毫安
V
输出
直流 输出 电压
3
输出 在 止 或者 高 状态 –0.5 至 +5.5 V
I
输出
直流 输出 电流 输出 在 低 状态 40 毫安
T
stg
存储 温度 范围 –65 至 150
°
C
注释:
1. 压力 在之外 那些 列表 将 导致 永久的 损坏 至 这 设备. 这些 是 压力 比率 仅有的 和 函数的 运作 的 这
设备 在 这些 或者 任何 其它 情况 在之外 那些 表明 下面 “recommended 运行 conditions” 是 不 暗指. exposure 至
绝对-最大-评估 情况 为 扩展 时期 将 影响 设备 可靠性.
2. 这 效能 能力 的 一个 高-效能 整体的 电路 在 conjunction 和 它的 热的 环境 能 create 接合面
温度 这个 是 detrimental 至 可靠性. 这 最大 接合面 温度 的 这个 整体的 电路 应当 不 超过 150
°
c.
3. 这 输入 和 输出 电压 比率 将 是 超过 如果 这 输入 和 输出 电流 比率 是 observed.
推荐 运行 情况
标识 参数
限制
UNITSYMBOL 参数
最小值 最大值
单位
V
CC
直流 供应 电压 4.5 5.5 V
V
I
输入 电压 0 V
CC
V
V
IH
高-水平的 输入 电压 2.0 V
V
IL
低-水平的 输入 电压 0.8 V
I
OH
高-水平的 输出 电流 –15 毫安
I
OL
低-水平的 输出 电流 20 毫安
t/
v 输入 转变 上升 或者 下降 比率 0 5 ns/v
T
amb
运行 自由-空气 温度 范围 –40 +85
°
C
直流 电的 特性
限制
标识 参数 测试 情况
T
amb
= +25
°
C
T
amb
= –40
°
C
至 +85
°
C
单位
最小值 典型值 最大值 最小值 最大值
V
IK
输入 clamp 电压 V
CC
= 4.5v; i
IK
= –18ma –0.9 –1.2 –1.2 V
V
OH
高-水平的 输出 电压 V
CC
= 4.5v; i
OH
= –15ma; v
I
= v
IL
或者 v
IH
2.5 2.9 2.5 V
V
OL
低-水平的 输出 电压 V
CC
= 4.5v; i
OL
= 20ma; v
I
= v
IL
或者 v
IH
0.35 0.5 0.5 V
I
I
输入 泄漏 电流 V
CC
= 5.5v; v
I
= 地 或者 5.5v
±
0.01
±
1.0
±
1.0
µ
一个
I
电源-止 泄漏 电流 V
CC
= 0.0v; v
O
或者 v
I
4.5v
±
5.0
±
100
±
100
µ
一个
I
CEX
输出 高 泄漏 电流 V
CC
= 5.5v; v
O
= 5.5v; v
I
= 地 或者 v
CC
5.0 50 50
µ
一个
I
O
输出 电流
1
V
CC
= 5.5v; v
O
= 2.5v –50 –75 –180 –50 –180 毫安
I
CC
安静的 供应 电流 V
CC
= 5.5v; v
I
= 地 或者 v
CC
2 50 50
µ
一个
I
CC
额外的 供应 电流 每
输入 管脚
2
V
CC
= 5.5v; 一个 数据 输入 在 3.4v, 其它
输入 在 v
CC
或者 地
0.25 500 500
µ
一个
注释:
1. 不 更多 比 一个 输出 应当 是 测试 在 一个 时间, 和 这 持续时间 的 这 测试 应当 不 超过 一个 第二.
2. 这个 是 这 增加 在 供应 电流 为 各自 输入 在 3.4v.
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