MC33298
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motorola 相似物 ic 设备 数据
(low–to–high)
所以
C
L
= 200 pf
V
DD
= 5.0 v
SCLK
MC33298
下面
测试
C
L
代表 这 总的 电容 的 这 测试 fixture 和 探查.
t
fSI
t
rSI
0.2 v
DD
0.7 v
DD
0.2 v
DD
0.7 v
DD
t
fSO
t
有效的
t
rSO
V
OL
V
OH
V
OL
V
OH
t
dly(hl)
t
dly(lh)
0.2 v
DD
0.7 v
DD
(2.5 v)
0
5.0 v
≤
10 ns
50%
≤
10 ns
所以 (low–to–high) 是 为 一个 输出 和 内部的 情况 此类 那
这 low–to–high 转变 的 csb 导致 这 所以 输出 至 转变
从 high–to–low.
所以
C
L
= 20 pf
R
L
= 2.0 k
Ω
V
Pull–Up
= 2.5 v
V
DD
= 5.0 v
CSB
MC33298
下面
测试
C
L
代表 这 总的 电容 的 这 测试 fixture 和 探查.
t
rSI
t
fSI
V
OL
V
OH
V
OL
V
OH
0
5.0 v
所以
t
所以(dis)
t
所以(en)
t
所以(dis)
t
所以(en)
(high–to–low)
0.7 v
DD
0.2 v
DD
(2.5 v)
≤
10 ns
≤
10 ns
CSB
注释
: 1. 所以 (high–to–low) 波形 是 为 所以 输出 和 内部的
情况 此类 那 所以 输出 是 低 除了 当 一个 输出 是
无能 作 一个 结果 的 detecting 一个 电路 故障 和 csb 在 一个
高 逻辑 状态 (e.g., 打开 加载).
2. 所以 (low–to–high) 波形 是 为 所以 输出 和 内部的
情况 此类 那 所以 输出 是 高 除了 当 一个 输出
是 无能 作 一个 结果 的 detecting 一个 电路 故障 和 csb 在
一个 高 逻辑 状态 (e.g., 短接 加载).
50%
50%
90%
所以
(low–to–high)
所以
SCLK
(high–to–low)
所以
50%
10%
图示 3. 有效的 数据 延迟 时间 和
有效的 时间 测试 电路
图示 4. 使能 和 使不能运转 时间 测试 电路
图示 5. vaild 数据 延迟 时间 和
有效的 时间 波形
图示 6. 使能 和 使不能运转 时间 波形
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