绝对 最大 比率
(注释 1, 3)
如果 军队/太空 指定 设备 是 必需的,
请 联系 这 国家的 半导体 销售 办公室/
分发 为 有效性 和 规格.
供应 电压, (v
CC
) +90V
偏差 电压, (v
BB
) +16V
输入 电压, (v
在
) 0Vto6V
存储 温度 范围, (t
STG
) −65˚C 至 +150˚C
含铅的 温度
(焊接,
<
10 秒.) 300˚C
静电释放 容忍, 人 身体 模型 2 kV
机器 模型 250V
运行 范围
(便条 2)
V
CC
+60V 至 +85V
V
BB
+8V 至 +15V
V
在
+0V 至 +5V
V
输出
+15V 至 +75V
情况 温度 −20˚C 至 +100˚C
做 不 运作 这 部分 没有 一个 热温 下沉.
电的 特性
(看
图示 2
为 测试 电路)
除非 否则 指出: V
CC
= +80v, V
BB
= +12v, C
L
= 8 pf, T
C
= 50˚C
直流 tests: V
在
= +2.8 V
直流
交流 tests: 输出 = 40 V
PP
(25v 至 65v) 在 1 mhz.
标识 参数 情况
LM2415
单位
最小值 典型值 最大值
I
CC
供应 电流 每 频道, 非 输入 信号, 非
输出 加载
13 毫安
I
BB
偏差 电流 所有 三 途径 14 毫安
V
输出
直流 输出 电压 非 交流 输入 信号, V
在
= 1.35v 62 65 68 V
直流
一个
V
直流 电压 增益 非 交流 输入 信号 −12 −14 −16
∆
一个
V
增益 相一致 (便条 4), 非 交流 输入 信号 1.0 dB
LE 线性 错误 (注释 4, 5), 非 交流 输入 信号 8
%
t
R
上升 时间 (便条 6), 10
%
至 90
%
5.5 ns
t
F
下降 时间 (便条 6), 90
%
至 10
%
6.0 ns
OS 越过 (便条 6) 5
%
便条 1:
绝对 最大 比率 表明 限制 在之外 这个 损坏 至 这 设备 将 出现.
便条 2:
运行 比率 表明 情况 为 这个 这 设备 是 函数的, 但是 做 不 保证 明确的 效能 限制. 为 有保证的 规格 和
测试 情况, 看 这 电的 特性. 这 有保证的 规格 应用 仅有的 为 这 测试 情况 列表. 一些 效能 特性 将
改变 当 这 设备 是 不 运作 下面 这 列表 测试 情况.
便条 3:
所有 电压 是 量过的 和 遵守 至 地, 除非 否则 指定.
便条 4:
计算 值 从 电压 增益 测试 在 各自 频道.
便条 5:
线性 错误 是 这 变化 在 直流 增益 从 V
在
= 1.0v 至 V
在
= 4.5v.
便条 6:
输入 从 信号 发生器: t
r
,t
f
<
1 ns.
交流 测试 电路
图示 2
显示 一个 典型 测试 电路 为 evaluation 的 这 lm2415. 这个 电路 是 设计 至 准许 测试 的 这 LM2415 在 一个 50
Ω
环境 没有 这 使用 的 一个 expensive 场效应晶体管 探查. 这 二 2490
Ω
电阻器 在 这 输出 表格 一个 200:1 电压 分隔物 当
连接 至 一个 50
Ω
加载.
ds100978-3
便条:
8 pF 加载 包含 parasitic 电容.
图示 2. 测试 电路 (一个 频道)
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