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图示 2c. 度量 点
图示 2. 使能 时间
便条: 类似的 连接 为 dg508a, dg509a.
图示 3a. 测试 电路
图示 3b. 度量 点
图示 3. 破裂-在之前-制造 间隔
便条: 类似的 连接 为 dg508a.
图示 4a. dg506a 测试 电路
便条: 类似的 连接 为 dg509a.
图示 4b. dg507a 测试 电路
测试 电路 和 波形
(持续)
3V
50%
0V
转变
输出
V
O
t
r
< 20ns
t
f
< 20ns
0V
V
O
t
在 (en)
t
止 (en)
EN 50%
0.9v
O
0.1v
O
EN
一个
1
一个
2
一个
3
逻辑
输入
50
Ω
+2.4v
转变
输出
35pF1k
Ω
+15V
-15v
地 v-
DG506A
所有 s 和 d
一个
D
B
V+
V
O
DG507A
一个
0
+5v (v
S
)
(便条)
3V
50%
0V
转变
输出
V
O
t
r
< 20ns
t
f
< 20ns
0V
逻辑
t
打开
输入
50%
V
S
EN
一个
2
S
1
一个
1
一个
0
1000pF
+15V
-15v
地 v-
DG506A
D
V+
V
O
一个
3
逻辑
输入
(便条)
EN
一个
2
S
1A
, s
1B
一个
1
一个
0
1000pF
+15V
-15v
地 v-
DG507A
D
一个
或者 d
B
V+
V
O
逻辑
输入
(便条)
dg506a, dg507a, dg508a, dg509a

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8 图示 2c. 度量点图示 2. 使能时间便条: 类似的连接为 dg508a, dg509a. 图示 3a. 测试电路图示 3b. 度量点图示 3. 破裂-在之前-制造间隔便条: 类似的连接为 dg508a. 图示 4a. dg506a 测试电路便条: 类似的连接为 dg509a. 图示 4b. dg507a 测试电路测试电路和波形 (持续) 3V 50% 0V 转变输出 V O t r < 20ns t f < 20ns 0V V O t 在 (en) t 止 (en) EN 50% 0.9v O 0.1v O EN 一个 1 一个 2 一个 3 逻辑输入 50 Ω +2.4v 转变输出 35pF1k Ω +15V -15v 地 v- DG506A 所有 s 和 d 一个 D B V+ V O DG507A 一个 0 +5v (v S ) (便条) 3V 50% 0V 转变输出 V O t r < 20ns t f < 20ns 0V 逻辑 t 打开输入 50% V S EN 一个 2 S 1 一个 1 一个 0 1000pF +15V -15v 地 v- DG506A D V+ V O 一个 3 逻辑输入 (便条) EN 一个 2 S 1A , s 1B 一个 1 一个 0 1000pF +15V -15v 地 v- DG507A D 一个或者 d B V+ V O 逻辑输入 (便条) dg506a, dg507a, dg508a, dg509a

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