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资料编号:1067792
 
资料名称:CD4050BMS
 
文件大小: 83311K
   
说明
 
介绍:
CMOS Hex Buffer/Converter
 
 


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4-5
表格 6. 适用 subgroups
conformance 组
mil-标准-883
方法 组 一个 subgroups 读 和 record
最初的 测试 (前 烧-在) 100% 5004 1, 7, 9 idd, iol5, ioh5a
interim 测试 1 (邮递 烧-在) 100% 5004 1, 7, 9 idd, iol5, ioh5a
interim 测试 2 (邮递 烧-在) 100% 5004 1, 7, 9 idd, iol5, ioh5a
pda (便条 1) 100% 5004 1, 7, 9, deltas
interim 测试 3 (邮递 烧-在) 100% 5004 1, 7, 9 idd, iol5, ioh5a
pda (便条 1) 100% 5004 1, 7, 9, deltas
最终 测试 100% 5004 2, 3, 8a, 8b, 10, 11
组 一个 样本 5005 1, 2, 3, 7, 8a, 8b, 9, 10, 11
组 b subgroup b-5 样本 5005 1, 2, 3, 7, 8a, 8b, 9, 10, 11, deltas subgroups 1, 2, 3, 9, 10, 11
subgroup b-6 样本 5005 1, 7, 9
组 d 样本 5005 1, 2, 3, 8a, 8b, 9 subgroups 1, 2 3
便条: 1. 5% 参数, 3% 函数的; cumulative 为 静态的 1 和 2.
表格 7. 总的 剂量 irradiation
conformance groups
mil-标准-883
方法
测试 读 和 record
前-irrad 邮递-irrad 前-irrad 邮递-irrad
组 e subgroup 2 5005 1, 7, 9 表格 4 1, 9 表格 4
表格 8. 烧-在 和 irradiation 测试 连接
函数 打开 地面 VDD 9V
±
-0.5v
振荡器
50kHz 25kHz
静态的 烧-在 1 (便条 1) 2, 4, 6, 10, 12, 13, 15 3, 5, 7-9, 11-14 1, 16
静态的 烧-在 2 (便条 1) 2, 4, 6, 10, 12, 13, 15 8 1, 3, 5, 7, 9, 11, 14, 16
动态 烧-在 (便条 3) 13 8 1, 16 2, 4, 6,10, 12, 15 3, 5, 7, 9, 11, 14
irradiation (便条 2) 2, 4, 6, 10, 12, 13, 15, 16 8 1, 3, 5, 7, 9, 11, 14
注释:
1. 各自 管脚 除了 管脚 1, 管脚 16, 和 地 将 有 一个 序列 电阻 的 10k
±
5%, vdd = 18v
±
0.5v
2. 各自 管脚 除了 管脚 1, 管脚 16, 一个 序列 电阻 47K
±
5%; e, Subgroup 2, 样本 大小 4 dice/薄脆饼, 0 failures, VDD
= 10v
±
0.5v
3. 各自 管脚 除了 管脚 1, 管脚 16, 和 地 将 有 一个 序列 电阻 的 4.75k
±
5%, vdd = 10v
±
0.5v
典型 效能 特性
图示 2. 最小 最大 电压 转移
特性
图示 3. 典型 输出 低 (下沉) 电流
特性
输出 电压 (vo) (v)
5
4
3
2
1
01234
输入 电压 (vi) (v)
最大
最小
包围的 温度 (t
一个
) = +25
o
C
供应 电压 (vcc) = 5v
10V15V
包围的 温度 (t
一个
) = +25
o
C
门-至-源 电压 (vgs) = 5v
0
30
20
10
40
50
60
流-至-源 电压 (vds) (v)
输出 低 (下沉) 电流 (iol) (毫安)
12345678
70
CD4050BMS
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