MBF200
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spi 主控 模式
在 spi 主控 模式 这 传感器 运作 在 spi 模式 (1,1) 在哪里
cpol = 1, 和 cpha = 1. sck 是 限制 至 1 mhz.
• mosi 位 改变 在 这 下落 边缘 的 SCK
• miso 位 是 抽样 在 这 rising 边缘 的 SCK
• sck 是 空闲 在 这 高 状态
• 这 大多数 significant 位 是 shifted 输出 first
函数 寄存器 描述
这 函数 寄存器 是 accessed 用 indexed 寻址. 写 这
index 寄存器 至 选择 一个 函数 寄存器. 读 或者 写 这 数据
寄存器 至 进入 这 内容 的 这 函数 寄存器. 所有 寄存器
能 是 读 和 写 除了 作 指出 在 这 下列的
描述.
函数 寄存器 编排
便条: 在 这 下列的 描述, “sub-image” 意思 一个 rectangular 区域 的 这 传感器 排列, 向上 至 和 包含 这 全部 排列.
RAH 0x00
行 地址 寄存器 高.
重置 状态: 0x00
这个 寄存器 holds 这 高 顺序 位 的 这 地址 的 这 first 行 的 一个 sub-image.
Index
名字 描述 读/写 进入
0x00 RAH 行 地址, 高 r/w
0x01 RAL 行 地址, 低 r/w
0x02 CAL column 地址, 低 r/w
0x03 REH 行 地址 终止, 高 r/w
0x04 REL 行 地址 终止, 低 r/w
0x05 CEL column 地址 终止, 低 r/w
0x06 DTR 释放 时间 寄存器 r/w
0x07 DCR 释放 电流 寄存器 r/w
0x08 CTRLA 控制 寄存器 一个 r/w
0x09 CTRLB 控制 寄存器 b r/w
0x0A CTRLC 控制 寄存器 c r/w
0x0B SRA 状态 寄存器 一个 R
0x0C PGC 可编程序的 增益 控制 寄存器 r/w
0x0D ICR 中断 控制 寄存器 r/w
0x0E ISR 中断 状态 寄存器 r/w
0x0F THR 门槛 寄存器 r/w
0x10 CIDH 碎片 identification, 高 R
0x11 CIDL 碎片 identification, 低 R
0x12 TST 测试 模式 寄存器 r/w
位 号码
位 名字 函数
[7:1] - 保留. 写 0 至 这些 位.
0 RA[8] 大多数 significant 位 的 行 地址 寄存器
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