3
节
/4
节串联用电池保护
IC
rev.3.0
_00
s-8254
系列
精工电子有限公司
9
2.6 ctl
输入电压
“h” (v
CTLH
)
、
CTL
输入电压
“l” (v
CTLL
)
从初始状态开始缓慢提升
CTL
端子的电压，
COP
端子以及
DOP
端子的电压变为
“H”
时
CTL
端子的电压
即为
CTL
输入
H
电压
(v
CTLH
)
。之后，缓慢降低
CTL
端子的电压，
COP
端子以及
DOP
端子的电压变为
“L”
时
CTL
端子的电压即为
CTL
输入
L
电压
(v
CTLL
)
。
2.7 sel
输入电压
“h” (v
SELH
)
、
SEL
输入电压
“l” (v
卖
)
从初始状态开始设置
v4 = 0v
，确认
DOP
端子为
“H”
。之后，缓慢降低
SEL
端子的电压，
DOP
端子的
电压变为
“L”
时
SEL
端子的电压即为
SEL
输入
L
电压
(v
卖
)
。之后，缓慢提升
SEL
端子的电压，
DOP
端子的电压变为
“H”
时
SEL
端子的电压即为
SEL
输入
H
电压
(v
SELH
)
。
3.
过充电检测延迟时间、过放电检测延迟时间、过电流检测延迟时间
1
、过电流检测延迟时间
2
、过 电 流 检
测延迟时间
3
(
测定电路
3)
在
V
VMP
= v
DD
、
V
INI
= v
SS
、
v1 = v2 = v3 = v4 = 3.5 v
的前提下，请确认
COP
端子以及
DOP
端子为
“l”(
以
下记载为初始状态
)
。
3.1
过充电检测延迟时间
(t
CU
)
过充电检测延迟时间
(t
CU
)
是从初始状态开始，使
V1
的电压在瞬间变化为
4.5 v
之后，
COP
端子的电
压从
“L”
变为
“H”
为止的时间。
3.2
过放电检测延迟时间
(t
DL
)
过放电检测延迟时间
(t
DL
)
是从初始状态开始，使
V1
的电压在瞬间变化为
1.5 v
之后，
DOP
端子的电
压从
“L”
变为
“H”
为止的时间。
3.3
过电流检测延迟时间
1 (t
IOV1
)
过电流检测延迟时间
1 (t
IOV1
)
是从初始状态开始，使
VINI
端子的电压在瞬间变化为
0.4 v
之后，
DOP
端子的电压从
“L”
变为
“H”
为止的时间。
3.4
过电流检测延迟时间
2 (t
IOV2
)
过电流检测延迟时间
2 (t
IOV2
)
是从初始状态开始，使
VINI
端子的电压在瞬间变化为
V
IOV2
最大值
+ 0.2 v
之后，
DOP
端子的电压从
“L”
变为
“H”
为止的时间。
3.5
过电流检测延迟时间
3 (t
IOV3
)
过电流检测延迟时间
3 (t
IOV3
)
是从初始状态开始，使
VMP
端子的电压在瞬间变化为
V
IOV3
最小值
−
0.2 v
之后，
DOP
端子的电压从
“L”
变为
“H”
为止的时间。
: 点此下载
