mitsubishi rf 电源 单元
rohs 遵从
RA07M1317M
RA07M1317M
mitsubishi electric
24 jan 2006
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静电的 敏感的 设备
注意到 处理 预防措施
输出 电源 控制:
取决于 在 线性, 这 下列的 二 方法是 推荐 至 控制 这 输出 电源:
一个) 非-直线的 fm 调制:
用 这 门 电压 (v
GG
).
当 这 门 电压 是 关闭 至 零, 这 rf 输入信号 是 attenuated 向上 至 60 db 和 仅有的 一个 小 泄漏
电流 flows 从 这 电池 在 这 流.
周围 v
GG
=2.5v, 这 输出 电源 和 流电流 增加 substantially.
周围 v
GG
=3v (典型) 至 v
GG
=3.5v (最大), 这 名义上的 输出放 电源 变为 有.
b) 直线的 am 调制:
用 rf 输入 电源 p
在
.
这 门 电压 是 使用 至 设置 这 流’s quiescent 电流 为 这 必需的 线性.
振动:
至 测试 rf 特性, 这个 单元 是 放 在 一个fixture 和 二 偏差 解耦 电容 各自 在 门 和
流, 一个 4.700 pf 碎片 电容, located 关闭 至 the 单元, 和 一个 22 µf (或者 更多) electrolytic 电容.
当 一个 放大器 电路 周围 这个 单元 显示s 振动, 这 下列的 将 是 审查:
一个) 做 这 偏差 解耦 电容 有 一个 低 电感 通过 至 这 情况 的 这 单元?
b) 是 这 加载 阻抗 z
L
=50
Ω
?
c) 是 这 源 阻抗 z
G
=50
Ω
?
frequent 开关 切换:
在 根基 stations, frequent 开关 switching 能 导致 热的 expansion 的 这 resin 那 coats 这 晶体管 碎片
和 能 结果 在 减少 或者 非 输出 电源. 这 bond 线s 在 这 resin 将 破裂 之后 长-期 thermally
induced 机械的 压力.
质量:
mitsubishi electric 是 不 有责任 为 failures 结果从 根基 station 运作 时间 或者 运行 情况
exceeding 那些 的 mobile 收音机.
这个 单元 技术 结果 从 更多 比 20 年 的experience, 地方 proven 在 tens 的 millions 的 mobile
收音机. 目前, 大多数 returned modules 显示 失败s 此类 作 静电释放, 基质裂开, 和 晶体管 burnout,
这个 是 造成 用 improper 处理 或者 exceeding 推荐 运行 情况. few 降级 failures
是 建立.
保持 安全 第一 在 your 电路 designs!
mitsubishi electric 公司 puts 这 毫安ximum 努力 在 制造 半导体 products 更好的 和 更多 可依靠的, 但是 那里
是 总是 这 possibility 那 trouble 毫安y 出现. trouble 和 半导体 将 含铅的 至 个人的 伤害, fire 或者 propert
y
损坏. remember 至 给 预定的 仔细考虑 至 安全 当 毫安king your 电路 设计, 和 适合的 measures 此类 作
(i) placement 的 substitutive, auxiliary 电路, (ii) 使用 的非-flammable 材料, 或者 (iii)prevention 相反 任何 malfunction o
r
mishap.
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