ADG428BR_集成电路资料查询网

rev. c
adg428/adg429
–9–
测试 电路
I
DS
V1
SD
V
S
R
在
= v1/i
DS
测试 电路 1. 在 阻抗
S1
D
S2
S8
一个
EN
地
V
DD
V
SS
V
DD
V
SS
+0.8v
V
D
V
S
I
S
(止)
测试 电路 2. I
S
(止)
S1
D
S2
S8
一个
EN
地
V
DD
V
SS
V
DD
V
SS
+0.8v
V
D
V
S
I
D
(止)
测试 电路 3. I
D
(止)
S1
D
S8
一个
EN
地
V
DD
V
SS
V
DD
V
SS
2.4v
V
D
V
S
I
D
(在)
测试 电路 4. I
D
(在)
V
DD
V
SS
V
DD
V
SS
V
S1
V
S8
输出
ADG428*
A0
A1
A2
50

2.4v
EN
地
S1
S2–S7
S8
D
1M

35pF
*similar 连接 为 adg429
RS
V
在
WR
3V
0V
使能
驱动 – v
在
t
转变
t
转变
输出
50% 50%
90%
90%
测试 电路 5. 切换 时间 的 多路调制器, t
转变
V
DD
V
SS
V
DD
V
SS
V
S
输出
ADG428*
A0
A1
A2
50

2.4v
EN
地
S1
S2–S7
S8
D
1k

35pF
*similar 连接 为 adg429
RS
V
在
WR
3V
0V
地址
驱动 – v
在
输出
80%
80%
t
打开
测试 电路 6. 破裂-在之前-制造 延迟, t
打开

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rev. c adg428/adg429 –9– 测试电路 I DS V1 SD V S R 在 = v1/i DS 测试电路 1. 在阻抗 S1 D S2 S8 一个 EN 地 V DD V SS V DD V SS +0.8v V D V S I S (止) 测试电路 2. I S (止) S1 D S2 S8 一个 EN 地 V DD V SS V DD V SS +0.8v V D V S I D (止) 测试电路 3. I D (止) S1 D S8 一个 EN 地 V DD V SS V DD V SS 2.4v V D V S I D (在) 测试电路 4. I D (在) V DD V SS V DD V SS V S1 V S8 输出 ADG428* A0 A1 A2 50  2.4v EN 地 S1 S2–S7 S8 D 1M  35pF similar 连接为 adg429 RS V 在 WR 3V 0V 使能驱动 – v 在 t 转变 t 转变输出 50% 50% 90% 90% 测试电路 5. 切换时间的多路调制器, t 转变 V DD V SS V DD V SS V S 输出 ADG428 A0 A1 A2 50  2.4v EN 地 S1 S2–S7 S8 D 1k  35pF *similar 连接为 adg429 RS V 在 WR 3V 0V 地址驱动 – v 在输出 80% 80% t 打开测试电路 6. 破裂-在之前-制造延迟, t 打开

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