ADG438FBR_集成电路资料查询网

adg438f/adg439f
–7–rev. d
V
D
S1
S2
S8
V
S
V
SS
V
DD
V
SS
V
DD
+0.8v
D
EN
一个
测试 电路 5. 输入 泄漏 电流
(和 超（电）压)
V
S
0V0V
0V 一个
* 类似的 连接 为 adg439f
A2
V
SS
V
DD
D
A1
A0
EN
地
ADG438F
*
S1
S8
测试 电路 6. 输入 泄漏 电流
(和 电源 供应 止)
I
D
(在)
V
D
S1
S8
V
S
V
SS
V
DD
V
SS
V
DD
+2.4v
D
EN
一个
S2
测试 电路 4. I
D
(在)
3V
50%
V
输出
t
转变
90%
90%
t
转变
地址
驱动 (v
在
)
50%
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
V
S1
* 类似的 连接 为 adg439f
A1
A0
EN
地
ADG438F
*
S1
S8
s2 thru s7
V
在
+2.4v
50

V
S8
R
L
1M

C
L
35pF
V
SS
V
DD
测试 电路 7. 切换 时间 的 多路调制器, t
转变
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
V
S
* 类似的 连接 为 adg439f
A1
A0
EN
地
ADG438F
*
S1
S8
s2 thru s7
V
在
+2.4v
50

R
L
1k

C
L
35pF
V
SS
V
DD
地址
驱动 (v
在
)
3V
V
输出
t
打开
80%
80%
测试 电路 8. 破裂-在之前-制造 延迟, t
打开
3V
50%
输出
0.9v
O
50%
t
在
(en)
0.9v
O
0V
V
O
0V
t
止
(en)
使能
驱动 (v
在
)
A2
V
输出
V
SS
V
DD
D
V
S
* 类似的 连接 为 adg439f
A1
A0
EN
地
ADG438F
*
S1
s2 thru s8
V
在
50

R
L
1k

C
L
35pF
V
SS
V
DD
测试 电路 9. 使能 延迟, t
在
(en), t
止
(en)

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adg438f/adg439f –7–rev. d V D S1 S2 S8 V S V SS V DD V SS V DD +0.8v D EN 一个测试电路 5. 输入泄漏电流 (和超（电）压) V S 0V0V 0V 一个 * 类似的连接为 adg439f A2 V SS V DD D A1 A0 EN 地 ADG438F * S1 S8 测试电路 6. 输入泄漏电流 (和电源供应止) I D (在) V D S1 S8 V S V SS V DD V SS V DD +2.4v D EN 一个 S2 测试电路 4. I D (在) 3V 50% V 输出 t 转变 90% 90% t 转变地址驱动 (v 在 ) 50% A2 V 输出 V SS V DD D V S1 * 类似的连接为 adg439f A1 A0 EN 地 ADG438F * S1 S8 s2 thru s7 V 在 +2.4v 50  V S8 R L 1M  C L 35pF V SS V DD 测试电路 7. 切换时间的多路调制器, t 转变 A2 V 输出 V SS V DD D V S * 类似的连接为 adg439f A1 A0 EN 地 ADG438F * S1 S8 s2 thru s7 V 在 +2.4v 50  R L 1k  C L 35pF V SS V DD 地址驱动 (v 在 ) 3V V 输出 t 打开 80% 80% 测试电路 8. 破裂-在之前-制造延迟, t 打开 3V 50% 输出 0.9v O 50% t 在 (en) 0.9v O 0V V O 0V t 止 (en) 使能驱动 (v 在 ) A2 V 输出 V SS V DD D V S * 类似的连接为 adg439f A1 A0 EN 地 ADG438F * S1 s2 thru s8 V 在 50  R L 1k  C L 35pF V SS V DD 测试电路 9. 使能延迟, t 在 (en), t 止 (en)

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