ADG411BN_集成电路资料查询网

adg411/adg412/adg413
rev. 一个 –7–
I
DS
V1
SD
V
S
R
在
= v1/i
DS
测试 电路 1. 在 阻抗
SD
V
S
V
D
一个
I
D
(在)
测试 电路 3. 在 泄漏
测试 电路
SD
V
S
一个
V
D
一个
I
S
(止)
I
D
(止)
测试 电路 2. 止 泄漏
SD
+15V +5V
0.1

F 0.1

F
V
DD
V
L
在
V
S
地
V
SS
R
L
300

C
L
35pF
V
输出
0.1

F
–15V
t
在
t
止
3V
50% 50%
50% 50%
3V
90% 90%
V
在
V
在
V
输出
ADG411
ADG412
测试 电路 4. 切换 时间
S1 D1
+15V +5V
0.1

F 0.1

F
V
DD
V
L
in1, in2
V
S1
地
V
SS
R
L1
300

C
L1
35pF
V
OUT1
0.1

F
–15V
V
S2
V
OUT2
R
L2
300

C
L2
35pF
S2
V
在
D2
t
D
t
D
3V
50% 50%
90%
V
在
V
OUT1
V
OUT2
90%
90%
90%
0V
0V
0V
测试 电路 5. 破裂-在之前-制造 时间 延迟
SD
+15V +5V
V
DD
V
L
在
V
S
地
V
SS
C
L
10nF
V
输出
–15V
R
S
3V
V
在
V
输出

V
输出
Q
INJ
= c
L
 
V
输出
测试 电路 6. 承担 injection

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adg411/adg412/adg413 rev. 一个 –7– I DS V1 SD V S R 在 = v1/i DS 测试电路 1. 在阻抗 SD V S V D 一个 I D (在) 测试电路 3. 在泄漏测试电路 SD V S 一个 V D 一个 I S (止) I D (止) 测试电路 2. 止泄漏 SD +15V +5V 0.1  F 0.1  F V DD V L 在 V S 地 V SS R L 300  C L 35pF V 输出 0.1  F –15V t 在 t 止 3V 50% 50% 50% 50% 3V 90% 90% V 在 V 在 V 输出 ADG411 ADG412 测试电路 4. 切换时间 S1 D1 +15V +5V 0.1  F 0.1  F V DD V L in1, in2 V S1 地 V SS R L1 300  C L1 35pF V OUT1 0.1  F –15V V S2 V OUT2 R L2 300  C L2 35pF S2 V 在 D2 t D t D 3V 50% 50% 90% V 在 V OUT1 V OUT2 90% 90% 90% 0V 0V 0V 测试电路 5. 破裂-在之前-制造时间延迟 SD +15V +5V V DD V L 在 V S 地 V SS C L 10nF V 输出 –15V R S 3V V 在 V 输出  V 输出 Q INJ = c L   V 输出测试电路 6. 承担 injection

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