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资料编号:124939
 
资料名称:ADuC847BS62-3
 
文件大小: 1109.89K
   
说明
 
介绍:
MicroConverter Multichannel 24-/16-Bit ADCs with Embedded 62 kB Flash and Single-Cycle MCU
 
 


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本平台电子爱好着纯手工中文简译:截至2020/5/17日,支持英文词汇500个
aduc845/aduc847/aduc848
rev. 一个 | 页 9 的 108
参数 最小值 典型值 最大值 单位 情况
PWM
−fxtal 3 µa
−fvco 0.5 毫安
tic 1 µa
3 v 电源 消耗量 2.7 v < dv
DD
< 3.6 v, av
DD
= 3.6 v
正常的 模式
11, 12
DV
DD
电流 4.8 毫安 核心 时钟 = 1.57 mhz
9 11 毫安 核心 时钟 = 6.29 mhz (cd = 1)
AV
DD
电流 180 µA 模数转换器 不 使能
电源-向下 模式
11, 12
DV
DD
电流 20 26 µA T
最大值
= 85°c; osc 在; tic 在
29 µa t
最大值
= 125°c; osc 在; tic 在
14 20 µa t
最大值
= 85°c; osc 止
21 µa t
最大值
= 125°c; osc 止
AV
DD
电流 1 µA T
最大值
= 85°c; osc 在 或者 止
3 µa t
最大值
= 125°c; osc 在 或者 止
1
温度 范围 是 为 aduc845bs; 为 这 aduc847bs 和aduc848bs (mqfp 包装), 这 range 是 –40°c 至 +125°c.
温度 范围 为 aduc845bcp, aduc847bcp, 一个d aduc848bcp (csp 包装)是 –40°c 至 +85°c.
2
这些 号码 是 不 生产 测试 但是 是 有保证的 用 设计 和/或者 描绘 数据 在 生产 释放.
3
系统 零-规模 校准 能 除去 这个 错误.
4
增益 错误 逐渐变化 是 一个 span 逐渐变化. 至 计算 全部-规模 错误 逐渐变化, 增加 这 补偿 错误 逐渐变化 至 这 增益 错误 逐渐变化 时间s 这 全部-规模 输入.
5
在 一般 条款, 这 双极 输入 电压 范围至 这 primary 模数转换器 是 给 用 这 模数转换器 范围 = ±(V
REF
2
RN
)/1.25, 在哪里:
V
REF
= refin(+) 至 refin(–) 电压 和 v
REF
= 1.25 v 当 内部的 模数转换器 v
REF
是 选择. rn = decimal 相等的 的 rn2, rn1, rn0. 为 example, 如果 v
REF
= 2.5 v 和 rn2,
rn1, rn0 = 1, 1, 0, respectively, 然后 这 模数转换器 范围 = ±1.28 v. 在 单极的 mode, 这 有效的 范围 是 0 v 至 1.28 v 在 这个例子.
6
1.25 v 是 使用 作 这 涉及 电压 至 这 模数转换器 当 内部的 v
REF
是 选择 通过 xref0/xref1 或者 axref 位 在 adc0con2 和 adc1con, 各自.
(axref 是 有 仅有的 在 这 aduc845.)
7
在 双极 模式, 这 auxiliary 模数转换器 能 是 驱动 仅有的 至 一个 最小 的 agnd – 30 mv 作 表明 用 这 auxiliary 模数转换器 绝对ain 电压 限制. 这 双极 范围 是
安静的 –v
REF
至 +v
REF
.
8
dac 线性 和 交流 规格 是 计算使用 一个 减少 代号 范围 的 48 至 4095, 0 v 至 v
REF
, 减少 代号 范围 的 100 至 3950, 0 v 至 vdd.
9
忍耐力 是 qualified 至 100 kcycle 每 电子元件工业联合会 标准. 22 方法 一个117 和 量过的 在 –40°c, +25°c,+85°c, 和 +125°c. 典型 endurance 在 25°c 是 700 kcycles.
10
保持 存在期 相等的 在 接合面 温度 (t
J
) = 55°c 每 电子元件工业联合会 标准. 22, 方法 a117. 保持 存在期 为基础 在 一个 触发 活力 的 0.6 ev derates
和 接合面 温度.
11
电源 供应 电流 消耗量 是 量过的 在 正常的 模式 下列的 这 电源-在 sequence, 和 在 电源-向下 模式 下面 这下列的 情况:
正常的 模式: 重置 = 0.4 v, 数字的 i/o 管脚 = 打开 circuit, 核心 clk changed 通过 cd 位 在 pllcon, 核心 executing 内部的 所以ftware 循环.
电源-向下 模式: 重置 = 0.4 v, 所有 p0 管脚 和 p1.2 至 p1.7 管脚 = 0.4 v. 所有 其它 数字的 i/o 管脚 是 打开 circuit, 核心 clk changed 通过 cd 位 在 pllcon, pcon.1 = 1,
核心 执行 suspended 在 电源-向下 模式, osc 转变 在 或者 止 通过 osc_pd 位 (pllcon.7) 在 pllcon sfr.
12
DV
DD
电源 供应 电流 增加 典型地 用 3 毫安 (3 v 运作)和 10 毫安 (5 v 运作) during 一个 flash/ee 记忆 程序 或者擦掉 循环.
一般 注释 关于 规格
dac 增益 错误 是 一个 measure 的 这 span 错误 的 这 dac.
这 aduc845bcp, aduc847bcp, 和 aduc848bcp (csp 包装) have 被 qualified 和 测试 和 这 根基 的 这 csp
包装 floating. 这 根基 的 这 csp 包装 应当 是 焊接 至 这 板, 但是 left floating 用电气, 至 确保 好的
机械的 稳固.
flash/ee memory 可靠性 特性 应用 至 两个都 这 flash/ee 程序 记忆 和 flash/ee 数据 记忆.
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