tps3600d20, tps3600d25, tps3600d33, tps3600d50
电池-backup supervisors 为 低-电源 processors
SLVS336A
–
12月 2000
–
修订 april 2001
7
邮递 办公室 盒 655303
•
达拉斯市, 德州 75265
详细地 描述 (持续)
25
µ
s
200 ms
100
µ
一个
t
I
BAT
图示 1. battok 定时
碎片-使能 信号 gating
这 内部的 gating 的 碎片-使能 信号 (ce) 阻止 erroneous 数据 从 corrupting cmos 内存 在
一个 下面-电压 情况. 这 tps3600 使用 一个 序列 传递 门 从 cein
至 ceout. 在 正常的
运作 (重置 不 asserted), 这 ce 传递 门 是 使能 和 passes 所有 ce transitions. 当 重置
是 asserted, 这个 path 变为 无能, 阻止 erroneous 数据 从 corrupting 这 cmos 内存. 这 短的
ce 传播 延迟 从 cein
至 ceout使能 这 tps3600 设备 至 是 使用 和 大多数 processors.
这 ce 传递 门 是 无能 和 cein
是 高 阻抗 (使不能运转 模式) 当 重置 是 asserted.
在 一个 电源-向下 sequence 当 v
DD
crosses 这 重置 门槛, 这 ce 传递 门 将 是
无能 和 cein
立即 变为 高 阻抗 如果 这 电压 在 cein 是 高. 如果 cein是 低 在
重置 是 asserted, 这 ce 传递 门 将 是 无能 一样 时间 当 cein
变得 高, 或者 15
µ
s 之后 重置
asserts, whichever occurs 第一. 这个 将 准许 这 电流 写 循环 至 完全 在 电源 向下. 当 这
ce 传递 门 是 使能, 这 阻抗 的 cein
呈现 作 一个 电阻 在 序列 和 这 加载 在 ceout.
这 整体的 设备 传播 延迟 通过 这 ce 传递 门 取决于 在 v
输出
, 这 源
阻抗 的 这 设备 连接 至 cein
和 这 加载 在 ceout. 至 达到 最小 传播 延迟,
这 电容的 加载 在 ceout
应当 是 使减少到最低限度, 和 一个 低-输出-阻抗 驱动器 是 使用.
在 使不能运转 模式, 这 传递 门 是 止 和 一个 起作用的 pullup connects ceout
至 v
输出
. 这个 pullup
转变 止 当 这 传递 门 是 使能.
15
µ
s
CEIN
CEOUT
重置
t
t
t
图示 2. 碎片-使能 定时
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