1996 微芯 技术 公司 ds11001l-页 3
27C256
表格 1-3: 读 运作 交流 特性
图示 1-1: 读 波形
交流 测试 波形: V
IH
= 2.4v 和 v
IL
= 0.45v; v
OH
= 2.0v v
OL
= 0.8v
输出 加载: 1 ttl 加载 + 100 pf
输入 上升 和 下降 时间: 10 ns
包围的 温度: 商业的: tamb = 0˚c 至 +70˚c
工业的: tamb = -40˚c 至 +85˚c
automotive: tamb = -40
°
c 至 +125
°
C
参数 Sym
27c256-90* 27c256-10* 27c256-12 27c256-15 27c256-20
单位 情况
最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值 最小值 最大值
地址 至 输出
延迟
t
ACC
— 90 — 100 — 120 — 150 — 200 ns CE
=oe =v
IL
CE
至 输出 延迟 t
CE
— 90 — 100 — 120 — 150 — 200 ns OE
= v
IL
OE
至 输出 延迟 t
OE
— 40 — 45 — 55 — 65 — 75 ns CE
= v
IL
CE
或者 oe 至 o/p
高 阻抗
t
止
0 30 0 30 0 35 0 50 0 55 ns
输出 支撑 从
地址 ce
或者 oe,
whichever 变得 first
t
OH
0 — 0 —0—0—0—ns
* -10, -90 交流 测试 波形: v
IH
= 2.4v 和 v
IL
= .45v; v
OH
= 1.5v 和 v
OL
= 1.5v
输出 加载: 1 ttl 加载 + 30pf
地址
CE
V
IH
V
IL
V
IH
V
IL
V
IH
V
IL
OE
输出
o0 - o7
V
OH
V
OL
地址 有效的
t
ce(2)
t
oe(2)
高 z
有效的 输出
t
ACC
(1) t
止
是 指定 为 oe 或者 ce, whichever occurs 第一
(2) oe 将 是 delayed 向上 至 t
CE
- t
OE
之后 这 下落 边缘 的 ce 没有 impact 在 t
CE
(3) 这个 参数 是 抽样 和 是 不 100% 测试.
高 z
t
OH
t
止(1,3)
注释:
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