CY74FCT16240T
CY74FCT162240T
2
最大 比率
[2, 3]
(在之上 这个 这 有用的 生命 将 是 impaired. 为 用户
指导原则, 不 测试.)
存储 温度 ......................com’l . –55
°
c 至 +125
°
C
包围的 温度 和
电源 应用..................................com’l . –55
°
c 至 +125
°
C
直流 输入 电压 ........................................... –0.5v 至 +7.0v
直流 输出 电压......................................... –0.5v 至 +7.0v
直流 输出 电流
(最大 下沉 电流/管脚) ........................–60 至 +120 毫安
电源 消耗 ..........................................................1.0w
静态的 释放 电压
(每 mil-标准-883, 方法 3015) .............................>2001v
管脚 summary
名字 描述
OE 三-状态 输出 使能 输入 (起作用的 低)
一个 数据 输入
Y 三-状态 输出
函数 表格
[1]
输入 输出
OE 一个 Y
L L H
L H L
H X Z
运行 范围
范围 包围的 温度 V
CC
工业的 –40
°
c 至 +85
°
C 5V
±
10%
电的 特性
在 这 运行 范围
参数 描述 测试 情况 最小值 典型值
[4]
最大值 单位
V
IH
输入 高 电压 2.0 V
V
IL
输入 低 电压 0.8 V
V
H
输入 hysteresis
[5]
100 mV
V
IK
输入 clamp 二极管 电压 V
CC
= 最小值., i
在
= –18 毫安 –0.7 –1.2 V
I
IH
输入 高 电流 V
CC
= 最大值., v
I
= v
CC
±
1
µ
一个
I
IH
输入 高 电流 V
CC
= 最大值., v
I
= v
CC
±
1
µ
一个
I
IL
输入 低 电流 V
CC
= 最大值., v
I
= 地
±
1
µ
一个
I
IL
输入 低 电流 V
CC
= 最大值., v
I
= 地
±
1
µ
一个
I
OZH
高 阻抗 输出 电流
(三-状态 输出 管脚)
V
CC
= 最大值., v
输出
= 2.7v
±
1
µ
一个
I
OZL
高 阻抗 输出 电流
(三-状态 输出 管脚)
V
CC
= 最大值., v
输出
= 0.5v
±
1
µ
一个
I
OS
短的 电路 电流
[6]
V
CC
= 最大值., v
输出
= 地 –80 –140 –200 毫安
I
O
输出 驱动 电流
[6]
V
CC
= 最大值., v
输出
= 2.5v –50 –180 毫安
I
止
电源-止 使不能运转 V
CC
= 0v, v
输出
≤
4.5v
[7]
±
1
µ
一个
输出 驱动 特性 为 cy74fct16240t
参数 描述 测试 情况 最小值 典型值
[4]
最大值 单位
V
OH
输出 高 电压 V
CC
= 最小值., i
OH
= –3 毫安 2.5 3.5 V
V
CC
= 最小值., i
OH
= –15 毫安 2.4 3.5 V
V
CC
= 最小值., i
OH
= –32 毫安 2.0 3.0 V
V
OL
输出 低 电压 V
CC
= 最小值., i
OL
= 64 毫安 0.2 0.55 V
注释:
1. h = 高 电压 水平的. l = 低 电压 水平的. x = don’t 小心. z = 高 impedance.
2. 运作 在之外 这 限制 设置 forth 将 impair 这 有用的 生命 的 这 设备. 除非 指出, 这些 限制 是 在 这 运行 自由-空气 温度 范围.
3. unused 输入 必须 总是 是 连接 至 一个 适合的 逻辑 电压 水平的, preferably 也 v
CC
或者 地面.
4. 典型 值 是 在 v
CC
=5.0v, t
一个
= +25˚c 包围的.
5. 这个 参数 是 specified 但是 不 测试.
6. 不 更多 比 一个 输出 应当 是 短接 在 一个 时间. 持续时间 的 短的 应当 不 超过 一个 第二. 这 使用 的 高-速 测试 apparatus 和/或者 样本
和 支撑 技巧 是 preferable 在 顺序 至 降低 内部的 碎片 加热 和 更多 准确地 reflect 运算的 值. 否则 prolonged shorting
的 一个 高 输出 将 raise 这 碎片 温度 好 在之上 正常的 和 因此 导致 invalid readings 在 其它 参数 tests. 在 任何 sequence 的 参数
tests, i
OS
tests 应当 是 执行 last.
7. 测试 在 +25˚c.
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