6
输出 驱动器
这 输出 驱动器 提供 和 起作用的 低 输出 的 500mA
名义上的 和 电流 限制的 设置 至 1.05a 至 准许 为 高
inrush 电流. 在 增加, 各自 输出 是 提供 和 一个
电压 clamp 电路 至 限制 inductive 过往旅客. 各自 输出-
放 驱动器 是 也 监控 用 一个 比较器 为 一个 输出 的
饱和 情况. 如果 这 输出 电压 的 一个 在 输出
管脚 超过 这 饱和 电压 限制, 一个 故障 情况 是
assumed 和 这 获得 驱动 这个 输出 是 重置, turning
这 输出 止. 这 输出 comparators, 这个 也 提供
diagnostic 反馈 数据 至 这 变换 寄存器, 包含 一个
内部的 拉-向下 电流 这个 将 导致 这 cell 至 indi-
cate 一个 低 输出 电压 如果 这 输出 是 编写程序 止
和 这 输出 管脚 是 打开 短路.
ce 高 至 低 转变
当
CE 是 低 这 三 状态 MISO 管脚 是 使能. 在
这 下落 边缘 的
ce, diagnostic 数据 从 这 输出 volt-
age comparators 将 是 latched 在 这 变换 寄存器. 如果 一个
输出 是 高, 一个 逻辑 一个 将 是 承载 在 那 位 在 这
变换 寄存器. 如果 这 输出 是 低, 一个 逻辑 零 将 是 承载.
在 这 时间 那
CE 是 低, 数据 字节 controlling 这
输出 驱动器 是 shifted 在 在 这 MOSI 管脚 大多数 signifi-
cant 位 (msb) 第一. 一个 逻辑 零 在 这个 管脚 将 程序 这
相应的 输出 至 是 在, 和 一个 逻辑 一个 将 转变 它
止.
ce 低 至 高 转变
当 这 last 数据 位 有 被 shifted 在 这 ca3282,
这
CE 管脚 应当 是 牵引的 高. 在 这 rising 边缘 的 ce,
变换 寄存器 数据 是 latched 在 这 输出 获得 和 这
输出 是 使活动 和 这 新 数据. 一个 内部的 150
µ
s
延迟 计时器 将 开始 在 这个 rising 边缘 至 compensate 为
高 inrush 电流 在 lamps 和 inductive 负载. 在
这个 时期, 这 输出 将 是 保护 仅有的 用 这 相似物
电流 限制的 电路 自从 resetting 的 这 输出 latches
用 故障 情况 将 是 inhibited 在 这个 时间. 这个
准许 这 设备 至 handle inrush 电流 立即
之后 转变 在. 当 这 150
µ
s 延迟 有 消逝, 这 输出-
放 电压 是 sensed 用 这 comparators 和 任何 输出 的
饱和 输出 是 latched 止. 这 串行 时钟 输入 管脚
(sck) 应当 是 低 在
CE transitions 至 避免 false
clocking 的 这 变换 寄存器. 这 SCK 输入 是 gated 用
CE
所以 那 这 sck 输入 是 ignored 当
ce 是 高.
detecting 故障 情况
故障 情况 将 是 审查 作 follows. 时钟 在 一个 新
控制 字节 和 wait 大概 150
µ
s 至 准许 这 输出-
puts 至 settle. 时钟 在 这 一样 控制 字节 和 便条 这
diagnostic 数据 输出 在 这 MISO 管脚. 这 diagnostic 位
应当 是 完全同样的 至 这 数据 clocked 在. 任何 differences
将 表明 一个 故障 在 这 相应的 输出. 为 exam-
ple, 如果 一个 输出 是 编写程序 在 用 clocking 在 一个 零,
和 这 相应的 diagnostic 位 为 那 输出 是 一个
一个, 表明 这 驱动器 输出 是 安静的 高, 然后 一个 短的
电路 或者 超载 情况 将 有 造成 这 输出 至
unlatch. alternatively, 如果 这 输出 是 编写程序 止
用 clocking 在 一个, 和 这 diagnostic 位 为 那 输出
显示 一个 零, 然后 这 probable 导致 是 一个 打开 电路
结果 在 一个 floating 输出.
消耗 在 多样的 输出
这 CA3282 Octal 电源 驱动器 有 多样的 MOS 输出
驱动器 和 需要 特定的 仔细考虑 和 关于 至
最大 电流 和 消耗 比率. 当 各自 输出
有 一个 最大 电流 规格 consistent 和 这
设备 结构, 所有 此类 设备 在 这 碎片 能 不 是
同时发生地 评估 至 这 一样 高 水平的 的 顶峰 电流.
这 总的 联合的 电流 和 这 消耗 在 这 碎片
必须 是 调整 为 最大 容许的 比率, 给
同时发生的 多样的 输出 情况.
1.5
1.0
0.5
0
饱和 电压 (v
SAT
)
电流 在 amperes (i
输出
)
-40
o
C
25
o
C
105
o
C
125
o
C
0.2 0.4 0.6 0.8
r
ds(在)
= 0.48
Ω
r
ds(在)
= 0.54
Ω
r
ds(在)
= 0.67
Ω
r
ds(在)
= 0.78
Ω
图示 3a. CA3282 典型 输出 驱动器 r
ds(在)
特性 的 电流 输出 vs
饱和 电压, v
SAT
为 一个 -40
o
c 至
125
o
c 接合面 温度
电流 在 amperes (i
输出
)
饱和 电压 (v
SAT
)
1.5
1.0
0.5
0
典型值 电流 限制的
-40
o
C
25
o
C
105
o
C
125
o
C
0 0.5 1.0 1.5
图示 3b. CA3282 典型 输出 驱动器 r
ds(在)
特性 的 电流 输出 vs
饱和 电压, v
SAT
为 一个 -40
o
c 至
125
o
c 接合面 温度
CA3282
: 点此下载
