测试 ACCEPTANCE
CRITERIA
号码 至 TESTS
2 一个 10 为 纵向的 一个
10 为 纵向的 B
和 10 为 transversal
3a 一个 5
3b B 1
3 B 1 为 各自 位置 的 s
表格 1 :
Acceptancecriteria 和 号码 的 tests.
图. 13 :
Lightning simulation 测试.
10/700
µ
s
发生器
+/- 4kV
4
Ω
I
V
Rsense
Rp
TIPL
TIPS
地
1/2 CLP200M
图. 14 :
CLP200M 回馈 至 一个 积极的 surge.
图. 15 :
CLP200M 回馈 至 一个 负的 surge.
图. 16 :
电源 电感 测试
.
测试 V
(rms)
r(
Ω
) 持续时间
3a 300 600 0.2s
3b 300 200 ?
3.2. Ringing 模式
3.2.1. Lightning simulation测试
Lightningphenomena是 这 大多数 一般 surge
导致. 这 目的 的 这个 测试 是 至 审查 这 ro-
bustness 的 这 CLP200M 相反 这些 lightning
strikes.
计算数量 14 和 15 显示 那 这 remaining 在-
电压 做 不 超过 +/- 260 v. 这 CLP200M
switches 在 在里面 0.7
µ
s 和 withstands这 100 一个
给 用 这 CCITT K20 发生器.
consequently,这 CLP200Mtotally fulfills 这个 测试.
3.2.2 电源 入门
(测试 3a 和 3b 表格 2/k20)
Surges 的 长 持续时间 和 中等 电压 值
是 mainly 生产 用 这 proximity 的 一个 sub-
scriber 线条 和 一个 交流 mains 线条 或者 设备.
这 目的 的 这个 测试 是 至 审查这 robustness
的 这 CLP200M 相反 这些 电容的 连接
干扰.
CLP200M
9/21