块 图解
Q
V
ID1
使能
SS
V
ID0
V
CC
V
门(h)
PGnd
V
门(l)
V
ID2
V
ID3
C
止
最大
在-时间
Timeout
V
CC
R
Q
S
C
止
一个 shot
ss 高
比较器
故障
获得
2.5v
错误 放大器
7
µ
一个
V
ID4
-
+
-
+
-
+
V
FB
低
比较器
PWM
比较器
ss 低
比较器
R
Q
S
Q
R
Q
S
2
µ
一个
5V
60
µ
一个
正常的
止-时间
扩展
止-时间
Timeout
时间 输出
计时器
(30
µ
s)
边缘 triggered
止-时间
Timeout
1.25v
故障
门(h) = 在
门(h) = 止
PGnd
PWM
获得
0.7v
竞赛
使能
比较器
-
+
LGnd
V
FB
1V
-
+
PWRGD
65
µ
s
延迟
-
+
-
+
pwm 竞赛
Blanking
-
+
电路 偏差
V
CC
监控
5 位
DAC
3.87v
3.95v
20k
-8.5%
+8.5%
故障
-
+
V
CC
6
CS5165
门槛 精度
更小的 门槛 upper 门槛
最小值 典型值 最大值 最小值 典型值 最大值 单位
% 的 名义上的 dac 输出 -12 -8.5 -5 5 8.5 12 %
■
dac 代号
V
ID4
V
ID3
V
ID2
V
ID1
V
ID0
0 1 0 0 0 1.487 1.546 1.606 1.775 1.834 1.893 V
0 1 0 0 1 1.443 1.501 1.558 1.722 1.779 1.837 V
0 1 0 1 0 1.399 1.455 1.511 1.670 1.725 1.781 V
0 1 0 1 1 1.355 1.409 1.463 1.617 1.671 1.724 V
0 1 1 0 0 1.311 1.363 1.416 1.565 1.617 1.669 V
0 1 1 0 1 1.267 1.318 1.368 1.512 1.562 1.613 V
0 1 1 1 0 1.223 1.272 1.321 1.460 1.508 1.557 V
0 1 1 1 1 1.179 1.226 1.273 1.407 1.454 1.501 V
1 1 1 1 1 1.097 1.141 1.185 1.309 1.353 1.397 V
便条 1: 有保证的 用 设计, 不 100% 测试 在 生产.
电的 特性: 0
˚
c < t
一个
< 70
˚
c; 0
˚
c < t
J
< 125
˚
c; 8v < v
CC
< 14v;
2.8v dac 代号 (v
ID4
=V
ID2
=V
ID1
=V
ID0
=1, v
ID3
= 0), c
门(h)
= c
门(l)
= 3.3nf, c
止
= 330pf, c
SS
= 0.1µf; 除非 否则 陈述.
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