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资料编号:236021
 
资料名称:74ACTQ245QSC
 
文件大小: 125.93K
   
说明
 
介绍:
Quiet Series⑩ Octal Bidirectional Transceiver with 3-STATE Inputs/Outputs
 
 


: 点此下载
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本平台电子爱好着纯手工中文简译:截至2020/5/17日,支持英文词汇500个
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74ACQ245
74ACTQ245
事实 噪音 特性
这 建制 的 一个 噪音 特性 度量 是 核心的
至 这 精度 和 repeatability 的 这 tests. 这 下列的
是 一个 brief 描述 的 这 建制 使用 至 measure 这
噪音 特性 的 事实.
设备:
hewlett packard 模型 8180a 文字 发生器
pc-163a 测试 fixture
tektronics 模型 7854 oscilloscope
程序:
1. 核实 测试 fixture 加载: 标准 加载 50 pf,
500
:
.
2. deskew 这 hfs 发生器 所以 那 非 二 途径
有 更好 比 150 ps skew 在 它们. 这个
需要 那 这 oscilloscope 是 deskewed 第一. 它 是
重要的 至 deskew 这 hfs 发生器 途径
在之前 测试. 这个 将 确保 那 这 输出 转变
同时发生地.
3. terminate 所有 输入 和 输出 至 确保 恰当的 加载-
ing 的 这 输出 和 那 这 输入 水平 是 在 这
准确无误的 电压.
4. 设置 这 hfs 发生器 至 toggle 所有 但是 一个 输出 在 一个
频率 的 1 mhz. 更好 发生率 将 增加
dut 加热 和 效应 这 结果 的 这 measure-
ment.
5. 设置 这 hfs 发生器 输入 水平 在 0v 低 和 3v
高 为 act 设备 和 0v 低 和 5v 高 为
交流 设备. 核实 水平 和 一个 oscilloscope.
图示 1. 安静 输出 噪音 电压 波形
便条 18:
V
OHV
和 v
OLP
是 量过的 和 遵守 至 地面 涉及.
便条 19:
输入 脉冲 有 这 下列的 特性: f
1mhz, t
r
3ns, t
f
3 ns, skew
150 ps.
V
OLP
/v
OLV
和 v
OHP
/v
OHV
:
决定 这 安静 输出 管脚 那 demonstrates 这
greatest 噪音 水平. 这 worst 情况 管脚 将 通常地 是
这 furthest 从 这 地面 管脚. 监控 这 输出 volt-
ages 使用 一个 50
:
coaxial 缆索 plugged 在 一个 标准
smb 类型 连接器 在 这 测试 fixture. 做 不 使用 一个
起作用的 场效应晶体管 探查.
measure v
OLP
和 v
OLV
在 这 安静 输出 在 这
worst 情况 转变 为 起作用的 和 使能 measure
V
OHP
和 v
OHV
在 这 安静 输出 在 这 worst
情况 起作用的 和 使能 转变.
核实 那 这 地 涉及 recorded 在 这 oscillo-
scope 有 不 drifted 至 确保 这 精度 和 repeat-
能力 的 这 度量.
V
ILD
和 v
IHD
:
监控 一个 的 这 切换 输出 使用 一个 50
:
coaxial
缆索 plugged 在 一个 标准 smb 类型 连接器 在
这 测试 fixture. 做 不 使用 一个 起作用的 场效应晶体管 探查.
第一 增加 这 输入 低 电压 水平的, v
IL
, 直到 这
输出 begins 至 oscillate 或者 步伐 输出 一个 最小值 的 2 ns.
振动 是 定义 作 噪音 在 这 输出 低 水平的
那 超过 v
IL
限制, 或者 在 输出 高 水平 那
超过 v
IH
限制. 这 输入 低 电压 水平的 在 这个
振动 occurs 是 定义 作 v
ILD
.
next decrease 这 输入 高 电压 水平的, v
IH
, 直到
这 输出 begins 至 oscillate 或者 步伐 输出 一个 最小值 的 2 ns.
振动 是 定义 作 噪音 在 这 输出 低 水平的
那 超过 v
IL
限制, 或者 在 输出 高 水平 那
超过 v
IH
限制. 这 输入 高 电压 水平的 在 这个
振动 occurs 是 定义 作 v
IHD
.
核实 那 这 地 涉及 recorded 在 这 oscillo-
scope 有 不 drifted 至 确保 这 精度 和 repeat-
能力 的 这 度量.
图示 2. 同时发生的 切换 测试 电路
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