CY74FCT16245T
CY74FCT162245T
CY74FCT162H245T
3
输出 驱动 特性 为 cy74fct16245t
参数 描述 测试 情况 最小值 典型值
[5]
最大值 单位
V
OH
输出 高 电压 V
CC
=最小值., i
OH
=–3 毫安 2.5 3.5 V
V
CC
=最小值., i
OH
=–15 毫安 2.4 3.5 V
V
CC
=最小值., i
OH
=–32 毫安 2.0 3.0 V
V
OL
输出 低 电压 V
CC
=最小值., i
OL
=64 毫安 0.2 0.55 V
输出 驱动 特性 为 cy74fct162245t, cy74fct162h245t
参数 描述 测试 情况 最小值 典型值
[5]
最大值 单位
I
ODL
输出 低 电流
[8]
V
CC
=5v, v
在
=V
IH
或者 v
IL
, v
输出
=1.5v 60 115 150 毫安
I
ODH
输出 高 电流
[8]
V
CC
=5v, v
在
=V
IH
或者 v
IL
, v
输出
=1.5v –60 –115 –150 毫安
V
OH
输出 高 电压 V
CC
=最小值., i
OH
=–24 毫安 2.4 3.3 V
V
OL
输出 低 电压 V
CC
=最小值., i
OL
=24 毫安 0.3 0.55 V
注释:
5. 典型 值 是 在 v
CC
=5.0v, t
一个
=+25˚c 包围的.
6. 这个 参数 是 specified 但是 不 测试.
7. 管脚 和 总线 支撑 是 描述 在 管脚 描述.
8. 不 更多 比 一个 输出 应当 是 短接 在 一个 时间. 持续时间 的 短的 应当 不 超过 一个 第二. 这 使用 的 高-速 测试 apparatus 和/或者 样本
和 支撑 技巧 是 preferable 在 顺序 至 降低 内部的 碎片 加热 和 更多 准确地 reflect 运算的 值. 否则 prolonged shorting 的
一个 高 输出 将 raise 这 碎片 温度 好 在之上 正常的 和 因此 导致 invalid readings 在 其它 参数 tests. 在 任何 sequence 的 参数
tests, i
OS
tests 应当 是 执行 last.
9. 测试 在 +25˚c.
电容
[6]
(t
一个
= +25˚c, f = 1.0 mhz)
参数 描述 测试 情况 典型值
[5]
最大值 单位
C
在
输入 电容 V
在
= 0v 4.5 6.0 pF
C
输出
输出 电容 V
输出
= 0v 5.5 8.0 pF
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