定义 的 包装 Pinouts
控制 信号
(所有 控制 信号 水平的 actuated)
cs:
碎片 选择
(起作用的 低). 这 CS 在 结合体
和 ILE 将 使能 WR
1
.
ile: 输入 获得 使能
(起作用的 高). 这 ILE 在 com-
bination 和 CS 使能 WR
1
.
WR
1
: 写 1.
这 起作用的 低 WR
1
是 使用 至 加载 这
数字的 输入 数据 位 (di) 在 这 输入 获得. 这
数据 在 这 输入 获得 是 latched 当 WR
1
是 高.
至 更新 这 输入 latch–CS 和 WR
1
必须 是 低
当 ILE 是 高.
WR
2
: 写 2
(起作用的 低). 这个 信号, 在 结合体 和
xfer, 导致 这 8-位 数据 这个 是 有 在 这
输入 获得 至 转移 至 这 DAC 寄存器.
xfer:
转移 控制 信号
(起作用的 低). 这 XFER 将
使能 WR
2
.
其它 管脚 功能
DI
0
-di
7
: 数字的 输入.
DI
0
是 这 least 重大的 位 (lsb)
和 DI
7
是 这 大多数 重大的 位 (msb).
I
OUT1
: DAC 电流 输出 1.
I
OUT1
是 一个 最大 为 一个
数字的 代号 的 所有 1’s 在 这 DAC 寄存器, 和 是
零 为 所有 0’s 在 DAC 寄存器.
I
OUT2
: DAC 电流 输出 2.
I
OUT2
是 一个 常量 minus
I
OUT1
,ori
OUT1
+I
OUT2
= 常量 (i 全部 规模 为 一个
fixed 涉及 电压).
R
fb
: 反馈 电阻.
这 反馈 电阻 是 pro-
vided 在 这 IC 碎片 为 使用 作 这 调往 反馈
电阻 为 这 外部 运算 放大 这个 是 使用 至
提供 一个 输出 电压 为 这 dac. 这个 在-碎片
电阻 应当 总是 是 使用 (不 一个 外部
电阻) 自从 它 matches 这 电阻器 这个 是
使用 在 这 在-碎片 r-2r ladder 和 轨道 这些
电阻器 在 温度.
V
REF
: 涉及 电压 输入.
这个 输入 connects 一个
外部 精确 电压 源 至 这 内部的
r-2r ladder. V
REF
能 是 选择 在 这 范围
的 +10 至 −10v. 这个 是 也 这 相似物 电压 输入
为 一个 4-quadrant 乘以 DAC 应用.
V
CC
: 数字的 供应 电压
. 这个 是 这 电源 供应
管脚 为 这 部分. V
CC
能 是 从 +5 至 +15V
直流
.
运作 是 最佳的 为 +15V
直流
地:
这 管脚 10 电压 必须 是 在 这 一样 地面
潜在的 作 I
OUT1
和 I
OUT2
为 电流 切换
产品. 任何 区别 的 潜在的 (v
OS
管脚
10) 将 结果 在 一个 线性 改变 的
为 例子, 如果 V
REF
= 10V 和 管脚 10 是 9mV 补偿 从
I
OUT1
和 I
OUT2
这 线性 改变 将 是 0.03%.
管脚 3 能 是 补偿
±
100mV 和 非 线性 改变, 但是 这
逻辑 输入 门槛 将 变换.
线性 错误
00560823
一个) 终止 要点 测试 afterzero 和 fs
adj.
00560824
b) 最好的 笔直地 线条
00560825
c) Shifting fs adj. 至 通过
最好的 笔直地 线条 测试
定义 的 条款
决议:
决议 是 直接地 related 至 这 号码 的
switches 或者 位 在里面 这 dac. 为 例子, 这 DAC0830
有 2
8
或者 256 步伐 和 因此 有 8-位 决议.
线性 错误:
线性 错误 是 这 最大 背离
从 一个
笔直地 线条 passing 通过 这 endpoints 的 这
DAC 转移 典型的
. 它 是 量过的 之后 调整 为
零 和 全部-规模. 线性 错误 是 一个 参数 intrinsic 至
这 设备 和 不能 是 externally 调整.
National’s 线性 “end 要点 test” (一个) 和 这 “best 笔直地
line” 测试 (b,c) 使用 用 其它 供应者 是 illustrated 在之上.
这 “end 要点 test’’ 非常 使简化 这 调整 proce-
dure 用 eliminating 这 需要 为 多样的 iterations 的 审查-
ing 这 线性 和 然后 调整 全部 规模 直到 这 线性
是 符合. 这 “end 要点 test’’ guarantees 那 线性 是 符合
之后 一个 单独的 全部 规模 调整. (一个 调整 vs. 多样的
iterations 的 这 调整.) 这 “end 要点 test’’ 使用 一个
标准 零 和 f.s. 调整 程序 和 是 一个 更
更多 stringent 测试 为 DAC 线性.
电源 供应 敏锐的:
电源 供应 敏锐的 是 一个
measure 的 这 效应 的 电源 供应 改变 在 这 DAC
全部-规模 输出.
安排好 时间:
安排好 时间 是 这 时间 必需的 从 一个 代号
转变 直到 这 DAC 输出 reaches 在里面
±
1
⁄
2
LSB 的 这
最终 输出 值. 全部-规模 安排好 时间 需要 一个 零 至
全部-规模 或者 全部-规模 至 零 输出 改变.
全部 规模 错误:
全部 规模 错误 是 一个 measure 的 这 输出
错误 在 一个 完美的 DAC 和 这 真实的 设备 输出.
dac0830/dac0832
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