adm206e/adm207e/adm208e/adm211e/adm213e
rev. b
–10–
新 一代 modem standards 这个 需要 数据 比率 的
200 kb/s. 这 回转 比率 是 内部 控制 至 较少 比 30 v/
µ
s
在 顺序 至 降低 emi 干扰.
t
DR
3V
0V
EN
输入
VOH
VOL
接受者
输出
voh –0.1v
vol +0.1v
便条:
en 是 这 complement 的
EN
为 这 adm213e
图示 22. 接受者-使不能运转 定时
t
ER
3V
0V
EN
输入
接受者
输出
+3.5v
+0.8v
便条:
en 是 这 complement 的
EN
为 这 adm213e
图示 23. 接受者 使能 定时
静电释放/eft 瞬时 保护 scheme
这 adm2xxe 使用 protective 夹紧 结构 在 所有 输入
和 输出 这个 clamps 这 电压 至 一个 safe 水平的 和 dissi-
pates 这 活力 呈现 在 静电释放 (静电的) 和 eft (elec-
trical 快 过往旅客) discharges. 一个 simplified 图式 的 这
保护 结构 是 显示 在 计算数量 24a 和 24b. 各自
输入 和 输出 包含 二 后面的-至-后面的 高 速 clamp-
ing 二极管. 在 正常的 运作 和 最大 rs-232
信号 水平, 这 二极管 有 非 影响 作 一个 或者 这 其它 是
反转 片面的 取决于 在 这 极性 的 这 信号. 如果 如何-
总是 这 电压 超过 关于
±
50 v, 反转 损坏 occurs
和 这 电压 是 clamped 在 这个 水平的. 这 二极管 是 大 p-n
汇合处 这个 是 设计 至 handle 这 instantaneous cur-
rent surge 这个 能 超过 一些 amperes.
这 传输者 输出 和 接受者 输入 有 一个 类似的 pro-
tection 结构. 这 接受者 输入 能 也 dissipate 一些 的
这 活力 通过 这 内部的 5 k
Ω
电阻 至 地 作 好 作
通过 这 保护 二极管.
这 保护 结构 achieves 静电释放 保护 向上 至
±
15 kv 和 eft 保护 向上 至
±
2 kv 在 所有 rs-232 i-o
线条. 这 方法 使用 至 测试 这 保护 scheme 是 dis-
cussed 后来的.
R
在
RX
D1
D2
接受者
输入
R1
图示 24a. 接受者 输入 保护 scheme
RX
D1
D2
传输者
输出
T
输出
图示 24b. 传输者 输出 保护 scheme
静电释放 测试 (iec1000-4-2)
iec1000-4-2 (先前 801-2) specifies 遵从 测试
使用 二 连接 方法, 联系 释放 和 空气-间隙
释放. 联系 释放 calls 为 一个 直接 连接 至 这
单位 正在 测试. 空气-间隙 释放 使用 一个 高等级的 测试 电压
但是 做 不 制造 直接 联系 和 这 单位 下面 测试. 和
空气 释放, 这 释放 gun 是 moved 对着 这 单位 un-
der 测试 developing 一个 arc 横过 这 空气 间隙, hence 这 期 空气-
释放. 这个 方法 是 影响 用 湿度, 温度,
barometric 压力, 距离 和 比率 的 closure 的 这 释放
gun. 这 联系-释放 方法 当 较少 realistic 是 更多
repeatable 和 是 gaining acceptance 在 preference 至 这 空气-间隙
方法.
虽然 非常 little 活力 是 包含 在里面 一个 静电释放 脉冲波,
这 极其 快 上升 时间 结合 和 高 电压 能 导致
failures 在 unprotected 半导体. catastrophic destruc-
tion 能 出现 立即 作 一个 结果 的 形成电弧 或者 加热. 甚至
如果 catastrophic 失败 做 不 出现 立即, 这 设备
将 suffer 从 参数 降级 这个 将 结果 在
degraded 效能. 这 cumulative 影响 的 持续的
暴露 能 eventually 含铅的 至 完全 失败.
i-o 线条 是 特别 vulnerable 至 静电释放 损坏. simply
touching 或者 plugging 在 一个 i-o 缆索 能 结果 在 一个 静态的 dis-
承担 那 能 损坏 或者 完全地 destroy 这 接口
产品 连接 至 这 i-o 端口. 传统的 静电释放 测试 meth-
ods 此类 作 这 mil-标准-883b 方法 3015.7 做 不 全部地
测试 一个 产品 susceptibility 至 这个 类型 的 释放. 这个 测试
是 将 至 测试 一个 产品 susceptibility 至 静电释放 损坏
在 处理. 各自 管脚 是 测试 和 遵守 至 所有 其它
管脚. 那里 是 一些 重要的 differences 在 这 tradi-
tional 测试 和 这 iec 测试:
(一个) 这 iec 测试 是 更 更多 stringent 在 条款 的 释放
( 活力. 这顶峰 电流 injected 是在 四 时间 更好.
(b) 这 电流 上升 时间 是 significantly faster 在 这 iec 测试.
(c) 这 iec 测试 是 carried 输出 当 电源 是 应用 至 这 设备.
它 是 可能 那 这 静电释放 释放 可以 induce 获得-向上 在 这
设备 下面 测试. 这个 测试 因此 是 更多 代表 的 一个
real-world i-o 释放 在哪里 这 设备 是 运行 也不-
mally 和 电源 应用. 为 最大 peace 的 mind 不管怎样,
两个都 tests 应当 是 执行, 因此, ensuring 最大
保护 两个都 在 处理 和 后来的 在 地方 维护.
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